CH-12.7-STSX 数显薄膜薄片测厚仪

CH-12.7-STSX 数显薄膜薄片测厚仪

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具体成交价以合同协议为准
2022-07-12 14:53:44
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上海沪粤明科学仪器有限公司

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产品简介

适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（Z大测量深度为80mm）

详细介绍

CH-12.7-STSX

数显薄膜薄片测厚仪

名 称：

千分数显塑料簿膜薄片台式测厚仪

分 度 值：

0.001mm

测量范围与准确度：

0mm～12.7mm ≤0.005mm

主要用途：

适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（zui大测量深度为80mm）

执行标准：

GB/T6672-2001 MOD ISO 4593-1993

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