KY-99C静态显微颗粒图像仪
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KY-99C静态显微颗粒图像仪
产品简介：
KY-99C是凯云仪推出的第三代静态颗粒图像分析仪通过新一代高清数字摄像系统，可将颗粒形貌直观的反映在电脑屏幕上。使测试人员首先对颗粒的总体状态有一个直观了解，进而通过自主开发的软件系统，获得常规粒度分布数据的同时还可以得到球形度、长径比等形貌表征数据。这是其他种类的颗粒测试仪器所达不到的，对于某些行业具有重要意义。
KY-99C既可以独立完成简单的粒度测试任务，也可以作为激光粒度仪的辅助和补充，对样品进行更全面更多样的分析，是颗粒测试工作中*的得力助手。
适用范围：
KY-99C静态颗粒图像仪适用于水泥、陶瓷、药品、涂料、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、炸药、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土及其他粉体行业。
产品优势：
“KY-99C颗粒图像仪”作为专业的颗粒图像分析仪器，是专为颗粒或颗粒相关行业设计开发的，它的突出优势主要体现在以下方面：
专业性强：与其他厂家生产的各种类型图像分析仪器相比，凯云仪专业的颗粒测试研究经验与图像学理论*结合，是“KY-99C颗粒图像仪”专业性的保证。本产品不但可对样品的颗粒单体的进行科学描述，还可以将颗粒的分布情况使用数据、图表等方式进行直观表现。能够独立或辅助激光粒度仪等设备更好的进行颗粒测试工作。
数据直观、易懂，分析结果一目了然：常见的颗粒测试仪器有激光粒度仪、沉降粒度仪等，但在进行颗粒检测的同时还可观测样品形貌的直观性优势是其他所有颗粒测试设备所不具备的，这能够使用户更全面的了解颗粒的形貌、状态、变化过程等信息。并且，对照直观的样品图片，可以帮助用户更好的理解报告中的数据含义。
应用广泛，价格低廉：“KY-99C颗粒图像仪”既可以作为一种观测仪器，替代传统显微镜进行各种样品的观测工作，又可以计算样品的各项数据，操作直观简便，应用范围十分广泛。且产品价格低廉，适用于不同行业不同规模的企业用户。
KY-99C显微颗粒图像分析仪技术参数及详细配置
| 硬件参数 | ||
显 微 系 统 | 物镜 | 4X、10X、40X、60X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组 |
目镜 | 1X、10X、16X 大视野摄像目镜 | |
载物台 | 手动三维机械式载物台，尺寸：185mm×140mm，移动范围：50mm×75mm，粗微同轴调焦，微动格值:2μm,带锁紧和限位装置 | |
光源 | 底部透射光源，6V 20W卤素灯,亮度可调。可选顶部金相落射式光源（带起偏振器） | |
光源 | 底部透射光源，6V 20W卤素灯,亮度可调。可选顶部金相落射式光源（带起偏振器） | |||
总放大倍数 | 4倍——1600倍 | |||
摄 像 系 统 | zui高分辨率 | 2048×1536 | ||
像素尺寸 | 3.2μm×3.2μm | |||
成像元件 | 1/1.8英寸 progress scan CMOS | |||
帧率 | 6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480 | |||
zui高清晰度 | 900线 | |||
信噪比 | 小于42dB | |||
敏感度 | 1.0V@550nm/lux/S | |||
输出方式 | USB2.0 | |||
实际观测范围 | 1微米——6000微米 | |||
软件参数 | ||||
软 件 功 能 | 静态采集 | 将样品形貌拍摄为高清晰BMP图片 | ||
图片处理 | 使用多种画图工具对图片进行比较简单的处理 | |||
图像拼接 | 将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性 | |||
颗粒的自动处理工具集 | 自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动*颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。 | |||
比例尺标定 | 通过国家标准测微尺标定后，每次测试只须选择与物镜相对应的比例尺数值即可直接得到颗粒的实际大小数值。 | |||
单个颗粒数据 | 可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析 | |||
任务管理机制 | 严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。 | |||
报告输出 | 将测试结果输出为报告，并可以自定义报告样式。 | |||
整体分布特征参数 | D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数 | |||
报 告 参 数 | 整体频率分布累计分布 | 颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。 | ||
统计平均径 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径 | |||
形状参数 | 长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据 | |||
个数统计 | 直接得到所观测的颗粒数量 | |||
样品缩略图 | 可以将样品缩略图显示到报告中 | |||
表头输入 | 可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中 | |||
自定义LOGO | 用户可以自定义LOGO和报告名称，使输出的报告显示自己公司的信息 | |||
