x射线荧光光谱仪【深圳华普通用科技有限公司(X射线荧光光谱仪：www.hpge。。ｃｏｍ.cn/guangpufenxiyi) :,咨询:】

.公司业务分为电子测试仪器部，化学分析仪器部，材料分析仪器部，电磁兼容测试仪器部以及芯片烧录设备部。华普通用与美国安捷伦(Agilent)、美国力科(LECORY) 、美国吉时利(KEITHLEY) 、美国泰克(Tektronix) 、美国科学仪器公司STI、美国SerialTek、德国斯派克(SPECTRO) 、瑞士特测(TESEQ) 、中国台湾崇贸(System General) 、以色列HERMON Labs、西班牙ALBEDO ecom SL、日本TAKAYA、澳大利亚CLUSO等数十家*仪器制造商在中国区有着广泛的合作。x射线荧光光谱仪

产品介绍：
    SPECTRO iQ II采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界.先。
    SPECTRO iQ II无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，都会提供友好的体验和满足检测的需求。
    SPECTRO iQ II微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。
    X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
    SPECTRO iQ II不受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。
    样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。
    设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。
    软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
 
产品指标：
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.003um
测量上限：30-50um（以材料元素判定）
测量层数：10层
测量用时：30-120秒
探测器类型：Si-PIN电制冷   
探测器分辨率：145eV
高压范围：0-50Kv，50W
X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：3种自动切换；
CCD观察：260万像素
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
测试环境：非真空条件
数据通讯：USB2.0模式
准直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm
软件方法：FlexFP-Mult
工作区：开放工作区 自定义
 
标准配件
样品固定支架1支
窗口支撑薄膜：100张
保险管：3支
计算机主机：品牌+双核
显示屏：19吋液晶
打印机：喷墨打印机
 
可选配件
可升级为SDD探测器
 
    可以实现全自动一键操作功能，准直器自动切换，滤光片自动切换，开盖随意自动停，样品测试照片自动拍照、自动保存，测试报告自动弹出，供应商信息自动筛选和保存