薄膜介电常数介质损耗测试仪GDAT-A

薄膜介电常数介质损耗测试仪使用方法：

高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。

1．测试注意事项

a．本仪器应水平安放；

b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；

c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；

d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；

e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；

f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）

特点：

优化的测试电路设计使残值更小
高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术
LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换
自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度

技术参数：

1．Q值测量
a．Q值测量范围：2～1023。
b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c．标称误差
     频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：
     固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2%
     工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%
2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH
3．电容测量：1~205
     主电容调节范围：18～220pF
     准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%
     注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明
4.  信号源频率覆盖范围
     频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,
     CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,
5．Q合格指示预置功能:      预置范围：5～1000。
6．B-测试仪正常工作条件
a.  环境温度：0℃～+40℃；
b．相对湿度：<80％；
c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：约25W；
b．净重：约7kg；
c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

标准配置：
高配Q表   一只  
试验电极  一只 （c类）
电感      一套 （9只）
电源线    一条
说明书    一份
合格证    一份
保修卡    一份

公司名称：北京北广精仪仪器设备有限公司    

地址：北京市海淀区上地科技园1号

：    （李）

： 757869373

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仪器保修承诺：

1、设备保修两年，终身服务，一年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， zui迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法 。

2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。

3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　

4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。