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荧光光谱仪技术规格说明书 光谱分析仪
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环境类检测设备：
恒温恒湿试验箱，湿热试验箱，恒温恒湿试验机，高低温交变湿热试验箱，调温调湿试验箱，高低温试验箱，三综合试验箱，高低温交变湿热试验箱，步入式恒温恒湿房，高温老化房，各种精密烤箱，冷热冲击试验箱，盐雾试验箱，淋雨试验箱，砂尘试验箱，耐黄变试验箱，日照试验箱，紫外老化试验箱，氙灯耐气候试验箱，臭氧老化试验箱，环境试验箱等。
材料力学类检测设备：
拉力试验机，微机控制材料试验机，跌落试验机（双翼、单翼、机跌落），振动试验机，线材弯折试验机，插拔寿命试验机，破裂强度试验机，纸箱耐压试验机，纸箱抗压试验机，环压强度试验机等。
光学检测设备：
二次元影像测量仪 三坐标
详细信息
荧光光谱仪技术规格说明书是由湖北高天提供，改设备能量色散X荧光光谱仪，简称XRF，是一种物理的元素分析方法，具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势，在子、器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业广泛应用。
GT-XRF-W7 荧光光谱仪技术规格说明书 | ||
| 仪器测试范围： | 从硫S-铀U之间的元素（包含RoHS和重金属元素 ） RoHS限定有害元素Pb/Hg/Cd/Cr/Br + 卤素Cl和Br 合金：铜材，铁合金，镍合金，锡合金，钛合金，贵金属 镀层：Ag/Sn/Au/Ni—Cu，Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe |
2. | 样品种类： | 固体、液体、粉末； |
3. | 低检出限： | RoHS：Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm 、Pb≤5ppm、Cl≤60ppm 成分分析：0.01%--99.99% |
4. | 测试时间： | 60s-200s(软件自动调整) |
5. | 工作环境温度： | 温度 :15-30℃ ；湿度：≤75% （不结露） |
6. | 输入源： | AC 220V±15%，50Hz |
7. | 高压保护措施 | 过压自保护，自恢复 |
8. | 仪器尺寸： | 650mm*450mm*350mm |
9. | 测试样品腔尺寸： | 280mm*280mm*200mm |
10. | 辐射防护标准： | 远高于国标GB18871-2002 GBZ115-2002标准 |
