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380ZLS&S 纳米粒径与电位分析仪
- 型号
- 380ZLS&S
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奥法美嘉（Alpharmaca）科技有限公司于2010年在上海成立，立足于医药行业，耕耘于纳米科学材料，化工，半导体，环境科学，汽车，过滤，涂料，墨水，油品等行业，以专业的纳米微米检测技术，“致力粒度分析，专注客户体验”。这已经成为奥法美嘉团队的信条。
借助于20多年的行业积累和技术储备，奥法美嘉将世界上处于技术地位的粒度仪——美国PSS粒度仪公司的激光粒度仪产品引入到中国市场，秉承着“传授粒度真知”“普及粒度知识”的理念，伴随着纳米知识的普及，伴随着中国经济向制造业的转型，经过短短几年，奥法美嘉科技有限公司作为美国PSS粒度仪公司在中国的代表，从*中心的建立运营，到如今覆盖全中国销售网络和售后服务网络，不仅用真诚的态度，而且用务实的专业知识，获得了广大客户的*。
Particle Solutions srl（意大利PSI均质机公司）位于意大利海滨工业城镇拉齐奥地区，毗邻历史悠久的古城罗马，由从事粒度相关领域内杰出的欧洲科学家以及工程师所组成的团队发起创立。公司团队拥有25年粒度检测知识积累，15年仪器工业设计经验，15年高压均质技术经验及应用研究。
通过深入发掘客户需求和应用难点，PSI团队研发出了新型高压微射流均质机，其稳定可控的均质压力及高剪切力保证了工艺可线性放大且可保证大产量需求，低噪音的设计理念可大大减缓传统工艺中的高噪音对于操作人员的不利影响，小巧紧凑的机身设计可以完美适应从实验室研发到中试及大生产的各种工作场景。自组建以来，团队累积了大量医药，生物，半导体，新材料等行业的相关应用经验。依托于医药行业*的GMP管理理念，PSI均质机的现代化数字屏幕，符合GMP法规的数据溯源系统将会成为未来制造业的有力保障。
现奥法美嘉综合PSS粒度仪和PSI均质机，为中国制造业提供纳米技术领域内从生产研发设备到检测仪器的整套解决方案。
详细信息
Nicomp 380 Z3000系列纳米粒径与电位分析仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围 0.3nm – 10μm，ZETA电位检测范围为+/- 500mV。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大节省检测成本。
纳米粒径与电位分析仪技术优势
1、APD&PMT双检测器；
2、多角度检测（multi angle）模块；
3、可搭配不同功率光源；
4、双列直插式电极和样品池，可反复使用成千上万次；
5、钯电极；
6、精确度高，接近样品真实值；
7、复合型算法：
高斯（Gaussion）单峰算法与的Nicomp多峰算法自由切换
相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换
8、快速检测，可以追溯历史数据；
9、结果数据以多种形式和格式呈现；
10、符合USP,CP等个多药典要求；
11、无需校准；
12、复合型算法：
（1）高斯（Gaussion）单峰算法与Nicomp多峰算法自由切换
10、模块化设计便于维护和升级；
（1）可自动稀释模块；
（2）搭配多角度检测器；
（3）自动进样系统（选配）；
380/MA多角度检测器
粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。
