Kaleo光学传递函数测量仪-波前分析仪

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Kaleo MTF for R&D Kaleo光学传递函数测量仪-波前分析仪

型号
Kaleo MTF for R&D
参数
测量精度:5 to 500 mm 测量时间:F# > 1.8 mm 测试范围:400-1100 nm 加工定制:否
深圳海纳光学有限公司

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美国AppliedImage公司图像测试卡、ISO 测试卡 、图像质量分析软件、Bar Code条形码校正;
还代理英国Laser2000,德国Pleiger Laseroptik,立陶宛Optogama,美国Precision Laser Scanning等厂家;

详细信息

Kaleo光学传递函数测量仪-波前分析仪

海纳光学代理的Phasics公司为研发和生产中的镜片质量控制和表面测量提供了all-round计量工具。Kaleo MTF for R&D测试仪对于研发的特点是多个波长下进行自动离轴MTF以及波前误差测试。Kaleo i是一款人工晶状体质量控制测试仪。这些计量仪器包括独立传感器和自动离轴透镜测试台等等产品。所有这些解决方案采用Phasics*的波阵面技术,并在保持易于使用和通用计量工具的同时执行可靠而完整的测量。覆盖的波长范围从紫外线到远红外线,并且都可以使用相控解决方案。

Kaleo IR波前传感器(Kaleo光学传递函数测量仪-波前分析仪)产品介绍:
该产品使得红外透镜的质量控制非常简单。Kaleo IR MTF可以在所有频率下单次拍摄而无需扫描或复杂对准。 该单次采集还提供了所有波前像差。Kaleo红外工作台可作为NIR,SWIR,MWIR或LWIR区域中任何波长组的具有成本效益的红外干涉仪。

MTF测试仪可测参数:
-MTF函数
-波前误差和像差
-多波长测试

Kaleo MTF for R&D镜头测试平台介绍:
Kaleo MTF工作台可在多个波长下执行自动离轴MTF和波前误差测量。 它还通过聚焦MTF,畸变,EFL等方式来测量像差(泽尼克系数)。依据镜头的出瞳参数,精确计算并测量透镜的离轴参数。 该工作台利用Phasics提供的完整的质量控制技术,具有易用性和多功能性。

Kaleo MTF for R&D镜头测试平台特点
-400至1100nm的6个波长
-在不同的方位角的测试

Kaleo-I传函测量仪介绍:
仪器是专为屈光人工晶状体(球面,非球面,复曲面或双焦点)的质量控制而设计的。由于采用高分辨率的波前传感器,它可以实现快速而可靠的测量。在生产中,它提供了ISO11979标准所要求的功率和MTF,包括模型眼。对于研发而言,它还提供了许多额外的结果,例如通过焦点的MTF和球差的像差。

镜头质量控制平台Kaleo-I的特点:
-符合ISO 11979-2标准的电源和MTF上通过/失败显示
-单个镜头和批次自动报告
-试管和模型眼
-快速的计算机辅助对准(仅对中)

Kaleo光学传递函数测量仪产品介绍:
Phasics可提供完整的透镜特性测试方案:离轴MTF和多种波长的波前误差。得益于Phasics patented technology,即使在大视野(FoV)时也可以提供准确的结果。Kaleo MTF测试仪非常适合测量少量物镜。操作员或研发工程师可以使用它来验证设计和原型阶段。 光学传递函数测量仪可通过一次采集即可提供完整的测试参数输出。
市场:汽车行业| ADAS | 监视和安全| 无人机| mobile phone
 
Phasics Kaleo MTF 测试平台的特点:
-单次测量,MTF测量高达截止频率,精度类似于干涉测量法
-高品质的准直光源,经济有效的解决方案
-无需重新校准离轴测量,自动对焦,易于校准和多种应用
-几种不同的波长(默认为RGB + IR),在几个方位角处测量
-全自动测量过程

Phasics MTF光学传递函数测量仪可测的参数
-轴上和轴外MTF,通过焦点MTF
-传输的波前错误,Zernike多项式
-镜头参数:EFL,F#,OPD在镜头出口瞳孔
-散光,图像失真,场曲率
-相对照度曲线

法国Phasics 镜头测试系统的具体参数:
参数 参数值
光学设置 有限到无限配置
波长范围 400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5µm / 8-14µm
入瞳直径 Up to 8.8 mm
F# > 1.8 mm
Flange焦距 8 to 30 mm
焦距范围 5 to 500 mm
视场角 Up to ±120°
MTF on-axis 准确性 <1%* - 重复性 <0.5%*
MTF off-axis 准确性 <2%** -重复性 <1%**
MTF 精确度 LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02
MTF 重复性 LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01
失真 准确性 <0.5% - 重复性 <0.05%
场曲率 准确性 <5µm - 重复性 <1µm
OPD(光程差)轴上 准确性 20 nm RMS -重复性<5 nm RMS

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测量精度 5 to 500 mm
测量时间 F# > 1.8 mm
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