PCT老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。

　老化试验箱广泛应用于线路板，多层线路板，IC，LCD，磁铁等产品之密封性能的检测，测试其制品的耐压性，气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

　　PCT老化试验箱在使用应注意以下几点要求：

　　1、满负荷工作，每一台试验机都有它的有效测量范围，不要超过满量程80%。长时间满量程工作，会对设备使用精度和寿命降低。

　　2、微机控制电子拉力试验机，微机和拉力试验机的连接线一定要按照说明书来进行链接，避免链接错误烧坏电器件。

　　3、试验速度选择不合适：每种材料试验速度都有相应的国标要求，速度选择不对不仅影响设备寿命，而且测试结果也会不准确。

　　4、PCT试验机试验完成离开实验室时要把拉力试验机和微机电源关闭，一方面节约电，一方面为了保证安全和电器件的使用寿命。

　　5、做完试验不用时，一定卸掉拉断的被测试样，避免夹具长时间受力变形，方便下次使用。