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热电阻测温仪
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西安赛力达自动化系统有限公司是一家以工业自动化控制技术为主的科技型企业，公司*致力于工业自动化控制、仪器仪表、无线通讯、工业数据采集监测等领域的产品研发、生产、销售和服务，在工业自动化/信息化领域里为客户提供咨询、设计以及一体化集成的服务。公司下属仪器仪表事业部和自动化事业部。
仪器仪表事业部由一批从事仪表领域工作多年，现场经验丰富的高级工程师为客户提供一的温度、压力等测量仪器和专业的测量解决方案。目前主要生产经营各种红外测温仪，回转窑无线测温系统，以及各种仪表自动化控制系统。经过*的努力，公司研发生产出SLD-C系列低温在线式红外测温仪，SLD-X系列激光瞄准小目标测温仪，SLD-T5连续式钢水测温仪，SLD-T系列透镜调焦型测温仪，SLD-SS双比色测温仪，SLD-RFT系列回转窑无线测温系统。产品先后应用于中高频感应加热测温，窑炉测温，机械设备测温、铸造熔炼测温、锻造热处理测温、回转窑测温、干燥设备测温等场合，产品受到广大客户的好评。
详细信息
热电阻测温仪红外热像仪一般分光机扫描成像系统和非扫描成像系统。光机扫描成像系统采用单元或多元（元数有8、10、16、23、48、55、60、120、180甚至更多）光电导或光伏红外探测器，用单元探测器时速度慢，主要是帧幅响应的时间不够快，多元阵列探测器可做成高速实时热像仪。非扫描成像的热像仪，如近几年推出的阵列式凝视成像的焦平面热像仪，属新一代的热成像装置，在性能上大大优于光机扫描式热像仪，有逐步取代光机扫描式热像仪的趋势。
热电阻测温仪
物体发射率对辐射测温的影响：自然界中存在的实际物体，几乎都不是黑体。所有实际物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外，还与构成物体的材料种类、制备方法、热过程以及表面状态和环境条件等因素有关。因此，为使黑体辐射定律适用于所有实际物体，必须引入一个与材料性质及表面状态有关的比例系数，即发射率。该系数表示实际物体的热辐射与黑体辐射的接近程度，其值在零和小于1的数值之间。根据辐射定律，只要知道了材料的发射率，就知道了任何物体的红外辐射特性。
由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路，并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。
测温仪与测试目标之间的距离必须在合适的范围之内，所谓“光点尺寸”（spot size）就是测温仪测量点的面积。您距离目标越远，光点尺寸就越大。右图所示为距离与光点尺寸的比率，或称D：S。在激光瞄准器型测温仪上，激光点在目标中心的上方，有12mm（0.47英寸）的偏置距离。
