J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统比较符合行业的要求和市场的需求性，在所有采样点上提供相同的激光通量，并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀，可以快速绘制元素图，J200采用了一种自动调高传感器，该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化，分析人员可应用单变量或多变量校准模型进行准确的定量分析，特定的搜索标准(波长范围、元素组、等离子体激发状态)可以用来在短时间内缩小搜索范围。

元素的快速深度剖析：
在目标点的重复激光采样过程中，Clarity LIBS分析软件中的DepthTracker?能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰值强度，揭示不同样品深度处元素组成的变化。DepthTracker?对于确定样品表面的污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别位于其下方的夹杂物是一项非常有价值的功能。

微粒冲洗性能：
根据测量目标(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要对样品室的各个性能指标进行优化，指标包括：冲洗时间、颗粒混合、样品室内的流动特性。

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统用完整的或特定范围的LIBS光谱、质谱图，分析人员可创建谱库，构建有效、多元的校准模型，以准确检测未知样品的元素浓度，通过参考标准浓度值直接赋值给LIBS或ICP-MS强度，单变量校准曲线可轻松生成，双摄像机，一个于高倍成像，另一个用于样品表面的广角观察，双路高精度数字质量流量控制器和电子控制阀门，硬件部件的全面控制与测量自动化。