EPK 730 740高精度测厚仪

创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的精确性

-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用

-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错

EPK 730 740高精度测厚仪

SIDSP技术-全新技术，智能数字化的涂层测厚探头

模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势

什么是SIDSP？

SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，世界领xian的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。

SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号*处理为数字形式。SIDSP探头*依据世界顶jian技术生产。

SIDSP工作原理？

跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您精确的涂层厚度值。此项jian端的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理*的信号质量和精确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。

SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。