X荧光光谱测厚仪

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XTU-BL X荧光光谱测厚仪

型号
XTU-BL
参数
测量范围:111 类型:其他
深圳市美程精密电子有限公司

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X荧光测厚仪

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分析仪,光谱仪

  深圳市美程精密电子有限公司,是一家集科学仪器研发、制造、销售为一体的现代化*。公司创立于2009年,经过十年的艰苦奋斗和不断创新,已成长为面向国内、市场,拥有*的生产、检测、试验设备,产品品种相对齐全、技术*、服务的同行业企业。产品包括光谱仪、色谱仪、质谱仪、 X射线类、前处理设备等几大系列五十余种型号,以及上百种*试剂和上千种配套方法,全部拥有自主知识产权, 并拥有自主品牌,广泛应用于各行各业的监督检测机构,在拥有数万家专业客户。

       深圳市美程仪器有限公司在中国分析仪器行业中*通过ISO9001质量体系认证、ISO14001环境体系认证和CE认证。并引入信息化工具,建立了较为完善的现代化企业管理制度。某某仪器在“实现对社会有*贡献,对从业者有良好的工作环境和发展空间的企业理想”的企业宗旨指导下,将“为了生活的安全与质量”定为战略目标,确立了以提供解决方案为的研发思路,以科技为发展的源动力,坚持致力于食品检测、环境监测、卫生防疫、水利勘察等方面产品的研究。以客户需求为出发点,充分利用规模优势为客户提供仪器、试剂、方法、*附件、技术培训等服务,基本实现了由设备制造商向系统集成服务商的转变。

       公司多次承担国家*、国家*、某市科委等部门的科技项目,国内分析仪器行业科技创新,项目成果多次列入国家重点新产品计划、国家火炬计划,多次荣获深圳市科技进步奖。

详细信息

X荧光光谱测厚仪适用于涂镀层厚度及材料成分分析的无损检测

性能优势:

    下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。

    无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm。

    微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。

    高效率的接收器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。

    EFP*算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

X荧光光谱测厚仪规格:

    外形尺寸 :550 mm x 660mm x 470 mm (长x宽x高)

    样品仓尺寸 :500mm×660 mm ×215mm (长x宽x高)

    仪器重量 :55kg

    供电电源 :交流220±5V

    大功率 :330W

    环境温度:15℃-30℃

    环境相对湿度:<70%

应用领域:

    线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

    手表、精密仪表制造行业

    镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析  

    钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

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测量范围 111
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