极小目标红外测温仪
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PhotriX 小光斑 极小目标红外测温仪

型号
PhotriX 小光斑
参数
测量范围:75 °C-2600 °C 类型:光测

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红外测温仪,红外热像仪,红外发射率测量仪,黑体辐射校准源,医用计量黑体,高速摄像机

详细信息

极小目标红外测温仪主要特性

低温测量功能(具体内容请参照以下表格);

  • 65°C温度条件下光谱响应为700-1650nm
  • 125°C温度条件下光谱响应为1550nm
  • 270°C温度条件下光谱响应为900nm
  • 280°C温度条件下光谱响应为880nm
  • 490°C温度条件下光谱响应为650nm

光斑尺寸小,为0.5毫米(在99%能源条件下);
响应时间短,仅1毫秒;
精确度+/- 1.5 °C或读数的0.15%;
精度0.01 °C(详见技术资料TN-828)。

简要描述
Photrix系列是我们精确的测温仪,拥有行业内较好的信噪比,可测量低温,实现小光斑尺寸以及快速响应时间(1毫秒)。标准镜头配置有5种光谱响应(波长),
模拟输出(用户可选4-20mA或0-10V)、带有镜头吹扫的保护硬件以及多通道接口模块(单个数字信号可使用8个传感器)可供选择。标准系统包括所有必要的电缆、电源、电脑接口软件以及存档/校正系统。
典型应用
具有低辐射率的金属;
铝;
铜铟镓硒(CIGS)薄膜太阳能沉积;
非晶硅薄膜沉积;
激光加热过程;
直拉晶体生长;
光纤拉丝;
感应加热。

 

资料下载

PhotriX-Datasheet
 

*解决方案

极小目标红外测温仪技术参数

测温范围:

30...2400°C

70...2600°C

210...2600°C

220...2600°C

400...2600°C

测量波段:

650 nm – 1650 nm

准确度:

± 1.5° C  读数的0.15% 

分辨率:

0.01 C

响应时间:

1ms

漂移:

<0.15° C 每年

输出:

RS-232 (标准), 支持Modbus 协议, 模拟输出(选配)

环境温度:

10 – 60° C

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产品参数

测量范围 75 °C-2600 °C
类型 光测
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