超声波试块 - NB/T47013-2 超声波检测设备
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CSK-IIA系列试块 超声波试块 - NB/T47013-2 超声波检测设备

型号
CSK-IIA系列试块
规格
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参数
测量范围:6mm~200mm 加工定制:否
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超声波测厚仪、超声波探伤仪、磁粉探伤仪、X射线探伤机、观片灯、黑白密度计、全自动洗片机、胶片烘干箱、里氏硬度计、超声波探头等理化检验与其他检测

山东正义检测科技有限公司是一家集科、工、贸于一体的专业无损检测器材及理化设备供应商。


公司致力于做好酷目胶片,恒温洗片机,东岳超声波试块,手持式紫外线探伤灯、超声波测厚仪、超声波探伤仪、磁粉探伤仪、X射线探伤机、观片灯、黑白密度计、全自动洗片机、胶片烘干箱、里氏硬度计、超声波探头的基础上,还代理了国内外的相关仪器,并拥有国内众多工业领域产品的中国区代理权,为国内企业客户提供高性能的国产及进口工业设备。




详细信息

CSK-IIA系列试块 - NB/T47013-2015 承压设备无损检测超声波探伤

该类试块依据承压设备I型焊接接头超声检测要求而设计,适用于将斜探头、直探头检测工件厚度范围为6mm~200mm的Ⅰ型焊接接头。试块设计内容见下表:

纵波灵敏度设定:将选用已校验好的直探头置于示意图中g位置,前后左右移动探头使直射声束在φ2×40mm横孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,。探头置于示意图中h位置,前后左右移动探头使直射声束在φ2×40mm横孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第二点。探头置于示意图中i位置,前后左右移动探头使直射声束在φ2×40mm横孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第三点。探头置于示意图中j位置,前后左右移动探头使直射声束在φ2×40mm横孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第四点。探头置于示意图中k位置,前后左右移动探头使直射声束在φ2×40mm横孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第五点。探头置于示意图中L位置,前后左右移动探头使直射声束在φ2×40mm横孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第六点。将以上六点连成一条曲线即为标准中规定的基准线,此时的灵敏度即为基准灵敏度。CSK-ⅡA-1#测试方法:(1)横波灵敏度的设定:将选用已校验好的的斜探头置于示意图中a位置,前后移动探头使直射声束在φ2×40mm横孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为点。探头置于示意图中b位置,前后移动探头使直射声束在φ2×40mm横孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第二点。探头置于示意图中c位置,前后移动探头使直射声束在φ2×40mm横孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第三点。探头置于示意图中d位置,前后移动探头使直射声束在φ2×40mm横孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第四点。探头置于示意图中e位置,前后移动探头使1次反射声束在φ2×40mm横孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第五点。探头置于示意图中f位置,前后移动探头使1次反射声束在φ2×40mm横孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第六点。将以上六点连成一条曲线即为标准中规定的基准线。

CSK-ⅡA-2#测试方法:1)横波灵敏度的设定:将选用已校验好的的斜探头置于示意图中a位置,前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为点。探头置于示意图中b位置,前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第二点。探头置于示意图中c位置,前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第三点。探头置于示意图中d位置,前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第四点。探头置于示意图中e位置,前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第五点。探头置于示意图中f位置,前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第六点。探头置于示意图中g位置,前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第七点。探头置于示意图中h位置,前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第八点。探头置于示意图中i位置,前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第九点。探头置于示意图中j位置,前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度,记录此时的dB值,此为第十点。将以上十点连成一条曲线即为标准中规定的基准线。

试块
CSK-IA
试块支架
CSK-IA
试块翻转架
CSK-IA
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产品参数

测量范围 6mm~200mm
加工定制

规格类型

CSK-IIIA试块 960元 1000件可售
翻转架 660元 1000件可售
普通牌 640元 999件可售
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