半导体器件性能表征系统

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半导体器件性能表征系统

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北京羲和阳光科技发展有限公司

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硅料检测分选仪 单晶P/N型测试仪 碳氧含量测试仪 硅片红外探伤仪

 北京羲和阳光科技发展有限公司是一家新能源科技公司,致力于太阳能光伏产业。提供光伏生产所用硅料的分选、检验、检测设备及相关设备配件,帮助您识别高质量的硅料,减少采购或销售的风险。

    

      我公司经营的主要产品有:硅料分选测试仪(电阻率,PN型识别)、电阻测试仪、排重掺测试仪、少子寿命测试仪、测厚仪、碳氧磷硼含量测试仪,表面线痕测试仪,光谱椭偏仪,透过率测试仪、相关产品配件,以及镓掺杂剂、母合金掺杂剂,异丙醇,双氧水等耗材。


      羲和的名称来源于中国的太阳神羲和女神,作为太阳能光伏产业的一份子,为提高太阳能电池生产过程的可控性,较大限度的减少过程风险,羲和科技在不懈追求、积极探索,我们深感肩头的重任,我们会倍加努力,持之以恒,给您提供*质的产品、*惠的价格和Z满意的服务。(关于羲和女神的故事)    

详细信息

半导体器件性能表征系统
型号:进口
该半导体器件性能表征系统是一个可以提供精密电流源、电压源和测试功能的测试系统,为半导体器件和测试结构的直流参数测试、实时绘图与分析提供了一套完整的方案,具有高精度和亚fA 级的分辨率,可广泛应用于各类新材料、薄膜材料、异质结构等光电子材料及器件的电学性质和物理特性的研究。

特点
■直观的、点击式Windows 操作环境;
■*的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA;
■内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储;
■*的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试;
■支持多种外围设备;
■用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充。


技术参数
■电压测量范围:1μV-200V,电压测量zui小分辨率为1μV;
■电流测量范围:100fA-100mA,电流测量zui小量程为100nA;
■在zui小量程上的电流测量zui小分辨率为100fA,精度30pA。

应用
■ 片上参数测试;
■ 晶圆级可靠性;
■ 封装器件的特性分析;
■ 使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析;
■ 高K栅电荷俘获;
■ 受自加热效应影响的器件和材料的等温测试;
■ 电荷泵方法分析MOSFET器件的界面态密度;
■ 电阻式或电容式MEMS驱动特性分析 ;
■ 半导体激光二极管DC/CW特性分析;
■ 收发模块DC/CW特性分析;
■ PIN和APD特性分析 。

 

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