LWF-200两用漆膜测厚仪

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LWF-200两用漆膜测厚仪

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详细信息

.概述
LWF-200两用漆膜测厚仪采用磁性、涡流两种测厚方法,可无损伤地检测磁性金属基体(如:铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如:锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。本仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业的仪器。
.本仪器符合以下标准
GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量(磁性方法)
GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量(涡流方法)
JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测厚仪
.特点
便携设计,手掌大小
采用高速的DSP芯片,具有快速的测量能力
人性化设计,简单操作。
在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质,无需手动转换
两种校准方式,零点校准和二点校准
宽角度LCD液晶显示
公制和英制单位转换
具有电源欠电压提示
操作过程有蜂鸣声提示
具有自动关机功能
四.测量原理
a)磁性法
当测头与覆层接触时,测头与磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆层的存在,使磁路磁阻发生变化,通过测量其变化量,可测得其覆层的厚度。
b)涡流法
利用高频交变电流线圈中产生一磁场,当测头与金属接触时,金属基体上会产生涡流,并对测头具有反馈作用,通过其反馈作用的大小可测出覆层厚度。
五、技术参数
1.测量范围:0-1200um
2.工作电源:两节五号电池
3.测量精误差:零点校准 ±(1.5+3%H);二点校准±【(1%~3%H)】H+1.5
4.公英制转换:um/mil转换
5.分辨率:0.1um/1um(100um以下为0.1um)
6.环境温度-10-40℃
7.相对湿度≤85%
8.最小基体10*10mm
9.最小曲率凸5mm;凹5mm
10.基体:0.4mm
11.重量:99克(含电池)
12.尺寸102mm*66mm*24mm
六、出厂清单
1.主机一台
2.标准片 四片
3.基体 两块(限两用测厚仪)
4.电池2两颗
5.说明书一份
6.保修卡一张
7.合格证一份

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