起订量:
FT150 X射线荧光镀层厚度测量仪
项目 | 描述 |
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X射线照射方向 | 上方照射式 |
上方照射式 | Al (13) ~ U(92) |
测定环境 | 大气 |
X射线发生部 | 45kV, 钼Mo 靶材 |
设计 | 毛细管聚焦Poly-capillary |
管电流 | 1000μA 可变 |
X射线检测部 | Silicon Drift Detector (SDD) |
测定面积 | φ0.030mm(FWHM 0.017mm) |
样品面积 | 长400mm、宽300mm、高200mm |
电动XY样品台驱动 移动范围 | 400×300mm |
CCD Camera | 1百万相数 |
对焦模式 | 雷射自动对焦 |
测量模式 | Thin Film FP (5层, 10元素)/检量线法 |
选配 | FT150H : 钨W target FT150L : 钼Mo target |