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德国Instrument Systems TOP 200 光学探头/辐射亮度测量探头/光谱仪配件
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详细信息
德国Instrument Systems TOP 200 光学探头/辐射亮度测量探头/光谱仪配件
TOP 200 –用于辐射和亮度测量的光学探头
TOP 200 光学探头基于普里查德式光学设计，带有集成式取景相机。
产品特长：
普里查德式光学设计配有倾斜度仅 15o 的孔镜，可以提供非常圆的清晰图像点
光纤的灵活连接和获取可重现读数的ZL模式混合器，以及极低的偏振灵敏度
可通过软件选择的 6 种测量点大小
具有宽视场的内部取景相机
小的测量点：80 μm
测试对象的可选照明
TOP 150 是具有单孔径的低成本替代产品。
测量应用
测得的辐射强度由 TOP 200 通过多模光纤耦合到光谱仪中。Instrument Systems 的ZL模式混合器可确保光纤中的光透射均匀，即使光纤位置改变，也可产生可重现读数。
普里查德原则支持在测量过程中观察视场，并监控视场进行准确定位。取景相机的图像由 SpecWin Pro 软件自动导入并与读数一起保存。
产品类型
德国Instrument Systems TOP 200 光学探头/辐射亮度测量探头/光谱仪配件
用于辐射和亮度测量的一体化系统 DTS140D NVIS 通常包含以下部件：
