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BOS-T180 显微颗粒图像分析仪 激光粒度仪
- 型号
- BOS-T180
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详细信息
一、显微颗粒图像分析仪 激光粒度仪产品简介
BOS-T180是国内蕞心一代静态颗粒图像分析设备，它采用蕞心的图像采集系统与分析软件，将计算机图像学与颗粒粒度及粒形分析理论玩美结合，在获得清晰的颗粒图像的同时，将颗粒的粒度、球型度、长径比、庞大率、表面率等相关颗粒大小和形状的表征参数以特征值和分布的形式呈现出来，使用户可以详细的了解颗粒。此外，该款仪器还赋予了自动化、智能化能时代性的标志、使其操作更简便、分析更智能、结果更稳定，是颗粒粒度测试及粒形分析的手选搭档和得力助手。
二、显微颗粒图像分析仪 激光粒度仪性能特点
直观反映颗粒形貌 将颗粒的表面形貌直接反映到计算机屏幕，用户可以直观且荃面了解颗粒的表面及形状属性；
玩美拼接多幅图像 将选取不同视场拍摄的多幅颗粒图像拼接成一幅，使参与分析的颗粒数量更多，测试结果更具代表性；
自动分割粘连颗粒 采用更的颗粒识别算法，对各种形状的粘连颗粒都能自动分割，显著提高粘连颗粒分割准确率，减少人为参与，有效缩短图像处理时间；
自适应二值化功能 采用一种自适应二值化功能，使其进行图像二值化处理时不受拍摄光线的影响，避免了因光线不均匀等因素而导致颗粒信息丢失的情况，为后续处理的精准度奠定基础；
自动处理颗粒图像 颗粒图像分析软件含有自动处理工具集，集成了二值化、肖除边界不完整颗粒、肖除杂点、填充空洞、平滑边缘、分割粘连颗粒、计算颗粒参数等功能的自动操作，一键即可完成颗粒图像处理到分析结果的生成等全部过程，操作简便且结果可靠；
自由切换粒径单位 标尺选取支持多种长度单位、可在纳米、微米和毫米之间自由切换，便于用户对通过电镜等其他方式获取的颗粒图片实现进一步处理；
快速处理特殊形状颗粒 对于球形颗粒，采用读特的处理算法，对原始图片无需进行任何处理而直接分析颗粒粒径信息，即使颗粒颗粒之间相互粘连或重叠也不会影响分析结果，提高球形颗粒的分析效率。
三、适用范围:
BOS-T180静态颗粒图像仪适用于水泥、陶瓷、药品、涂料、树脂、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、榨药、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土及其他粉体行业。
四、技术参数
规格型号 | BOS-T180 | |
执行标准 | ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008 | |
显微系统 | 物镜 | 4X、10X、40X、60X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组 |
目镜 | 1X、10X、16X 大视野摄像目镜 | |
载物台 | 手动三维机械式载物台，尺寸：185mm×140mm， 移动范围：50mm×75mm，粗微同轴调焦， 微动格值：2μm,带锁紧和限位装置 | |
光源 | 底部透射光源，6V 20W卤素灯,亮度可调。可选顶部金相落射式光源（带起偏振器） | |
总放大倍数 | 4倍——1600倍 | |
摄像系统 | 蕞高分辨率 | 2048×1536 |
像素尺寸 | 3.2μm×3.2μm | |
成像元件 | 1/1.8英寸 progress scan CMOS | |
帧率 | 6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480 | |
蕞高清晰度 | 900线 | |
信噪比 | 小于42dB | |
敏感度 | 1.0V@550nm/lux/S | |
输出方式 | USB2.0 | |
实际观测范围 | 1-6000μm | |
软件功能 | 静态采集 | 将样品形貌拍摄为高清晰JPG图片 |
图片处理 | 使用多种画图工具对图片进行比较简单的处理 | |
图像拼接 | 将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性。同时也可单张分析保存后再进行拼接，进一步提高了结果的准确性。 | |
颗粒的自动处理工具集 | 自动肖除颗粒粘连、自动肖除杂点、自动肖除边界不完整颗粒、自动*颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。 | |
比例尺标定 | 通过帼家标准测微尺标定后，每次测试只须选择与物镜相对应的比例尺数值即可直接得到颗粒的实际大小数值。 | |
单个颗粒数据 | 可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析。 | |
任务管理机制 | 严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。 | |
报告输出 | 将测试结果输出为报告，并可以自由修改报告样式。 | |
整体分布特征参数 | D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数 | |
报告参数 | 整体频率分布累计分布 | 颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。 |
统计平均径 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径 | |
形状参数 | 长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据 | |
个数统计 | 直接得到所观测的颗粒数量 | |
样品缩略图 | 可以将样品彩色或黑白（可选择）缩略图显示到报告中 | |
表头输入 | 可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中 | |
