DZ3320A 差热分析仪

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DZ3320A 差热分析仪

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南京大展机电技术研究所

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DZ3332 高温差热分析仪

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差热分析仪,差示扫描量热仪,导热仪,碳黑含量测试仪

 


差热分析仪、差示扫描量热仪、碳黑含量测试仪、热重分析仪、同步热分析仪、平板法导热仪、介电常数测量仪等,热线电话:  

南京大展机电技术研究所始建于1992年,位于南京市江宁区百家湖科技产业园,是集科研、生产、销售于一体的高科技型企业,专业从事差热分析仪、差示扫描量热仪、热失重分析仪等仪器的研发、制造,产品广泛应用于电力、煤炭、造纸、石化、农牧、医药科研、教学等领域,在众多用户中享有很好的口碑。

    我们以满足客户需求为己任,凭借坚实雄厚的技术力量,认真严谨的科研态度,稳健的发展战略,成功打造出一支高质高效的科研团队。从技术咨询到技术培训,从产品展示到调试服务,我们的技术专家和工程师为客户提供全面的售前售后服务和强大的技术支持。经过十多年的发展,“大展”已成为行业,在吸收国内外*技术的基础上,我们不断推陈出新,与时俱进,开发了具有大展特色的产品,在激烈的市场竞争中始终立于不败之地。

    展望未来,我们将一如既往地秉承“以技术为核心、以质量为保证”的经营理念,立足国内,面向市场,昂首迈向新的征程!

 

差热分析仪、差示扫描量热仪、碳黑含量测试仪、热重分析仪、同步热分析仪、平板法导热仪、介电常数测量仪等,热线电话:  

详细信息

该仪器已获国家,号.3。

 

产品介绍:

差热分析是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。


仪器特点:

1.仪器主控芯片采用Cortex-M3内核ARM控制器,运算处理速度更快,温度控制更精确。

2.采用USB双向通讯,操作更便捷。

3.采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏,界面更友好。

4.采用镍铬合金传感器,更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。


技术参数: 

1. 温度范围: 室温~1150℃  

2. 量程范围: 0~±2000μV   

3. DTA精度: 0.01μV  

4. 升温速率: 1~80℃/min  

5. 温度分辨率: 0.1℃  

6. 温度准确度: ±0.1℃  

7. 温度重复性: ±0.1℃   

8. 温度控制: 升温:程序控制  可根据需要进行参数的调整

           恒温:程序控制  恒温时间任意设定

9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作

10.气氛控制: 内部程序自动切换

11.数据接口: 标准USB接口  配套数据线和操作软件

12.显示方式: 24bit色 7寸 LCD触摸屏显示

13.参数标准: 配有标准物,带有一键校准功能,用户可自行对温度进行校正

14.基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线

15.工作电源: AC 220V  50Hz

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