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ZXL-850高精度测厚仪（磁性，电涡流）
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我们将立足于厂商和客户之间，与时代发展同步，积极引进代表*水平的前沿产品，与国内建设市场的广大工作者们共同努力，一同描绘更广阔美好的明天！产品系列：测距类：激光测距仪、测距望远镜、超声波测距仪、激光测距传感器测量类：全站仪、经纬仪、水准仪、垂准仪 /水平仪 装饰类：标线仪、扫平仪、水平尺、铅垂仪建筑结构检测类：混凝土厚度/钢筋测试仪 、墙体探测仪、 楼板测 厚仪、全自动数字回弹仪、裂缝测宽仪、钢筋锈蚀仪、非金属超声波检测仪等
详细信息
概述
涂层测厚仪采用磁性、涡流两种测厚方法，可无损伤地检测磁性金属基铁（如：铁、钢、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如：锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）本仪器广泛地应用于一切金属表面涂层。
1）本仪器符合以下标准
GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量（磁性方法）
GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量（涡流方法）
JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测厚仪
2）特点：
便携设计，手掌大小
采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力
人性化设计，简单操作。
在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质，无需手动转换
两种校准方式，零点校准和二点校准
宽角度LCD液晶显示
公制和英制单位转换
具有电源欠电压提示
操作过程有蜂鸣声提示
具有自动关机功能
3)测量原理
a)磁性法
当测头与覆层接触时，测头与磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆层的存在，使磁路磁阻发生变化，通过测量其变化量，可测得其覆层的厚度。
b)涡流法
利用高频交变电流线圈中产生一磁场，当测头与金属接触时，金属基体上会产生涡流，并对测头具有反馈作用，通过其反馈作用的大小可测出覆层厚度
涂层测厚仪技术参数
1.测量范围：0-1500um
2.工作电源：两节五号电池
3.测量精误差：零点校准 ±（1.5+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5
4.环境温度0-40℃
5.相对湿度≤85%
6.最小基体10*10mm
7.最小曲率凸5mm;凹5mm
8.基体：0.4mm
9.重量：240克（含电池）
10.尺寸150mm*74mm*32mm
涂层测厚仪采用磁性、涡流两种测厚方法，可无损伤地检测磁性金属基铁（如：铁、钢、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如：锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）本仪器广泛地应用于一切金属表面涂层。
1）本仪器符合以下标准
GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量（磁性方法）
GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量（涡流方法）
JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测厚仪
2）特点：
便携设计，手掌大小
采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力
人性化设计，简单操作。
在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质，无需手动转换
两种校准方式，零点校准和二点校准
宽角度LCD液晶显示
公制和英制单位转换
具有电源欠电压提示
操作过程有蜂鸣声提示
具有自动关机功能
3)测量原理
a)磁性法
当测头与覆层接触时，测头与磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆层的存在，使磁路磁阻发生变化，通过测量其变化量，可测得其覆层的厚度。
b)涡流法
利用高频交变电流线圈中产生一磁场，当测头与金属接触时，金属基体上会产生涡流，并对测头具有反馈作用，通过其反馈作用的大小可测出覆层厚度
涂层测厚仪技术参数
1.测量范围：0-1500um
2.工作电源：两节五号电池
3.测量精误差：零点校准 ±（1.5+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5
4.环境温度0-40℃
5.相对湿度≤85%
6.最小基体10*10mm
7.最小曲率凸5mm;凹5mm
8.基体：0.4mm
9.重量：240克（含电池）
10.尺寸150mm*74mm*32mm
