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Nicomp Z3000 NicompZ3000纳米粒径及Zeta电位分析仪NicompZ3000 纳米粒度仪
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- Nicomp Z3000
北京斯达沃科技有限公司(以下简称“斯达沃”)依托北分仪器厂技术为支持，和附近各大科研单位建立紧密战略合作关系，公司研发中心针对目前行业动态需求，制订研发战略进行技术预研、技术研发、技术创新，以适应当前的行业发展需要，坚持与时俱进，自主创新研发，研制了完整的油品分析仪器、水质分析仪器、气体分析等三维实验室，其中“全自动开口闪点测定仪”“全自动微量水分测定仪” “全自动运动粘度测定仪” “ 台式油液颗粒计数器”“便携式油液颗粒计数器”“便携式精密棱镜露点仪”“ 硅磷铜铁联氨浊度分析仪系列” “便携式溶解氧分析仪”“紫外/可见分光光度计”等多种仪器，在国内的电厂、石油石化、化工厂、钢铁厂、检测单位等用户里有良好的应用合作关系。持续为我国核工业、*、化工厂、污水处理厂、环境监测站、放射性管理部门、*、应急响应、国土安全、疾控中心、放射医学、科研机构、高校、工业厂矿、*等众多的领域和部门提供高质量、高性能的产品和*的ji术支持与服务。
与此同时，公司为了满足客户水分析，油分析，气分析等方面个性化市场需求，公司代理经销英国杰普仪器，美国哈希，安捷伦，德国劳达，瑞士斯旺、E H、瑞万通，美国华瑞气体检测仪 美国英思科气体检测仪 意大利哈纳分析仪 德国罗威邦谁知分析仪 英国凯恩烟气分析仪 英国ppm甲醛检测仪等国外。为我国能源清洁高效利用、污水污泥处理、固废处理、废气治理、环境修复等领域提供技术设备支持，为众多客户提供了环境保护与资源再生利用工程的ji术支持，公司全体员工精诚团结、不断创新，为推动国家青山绿水环保型经济发展而努力奋斗!
详细信息
纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000介绍
NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用*的设计理念优化结构设计，充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术，即可以多角度（步长0.9μm;）检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围：粒度测试范围：0.3 nm – 10 µm。
NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量，是表征胶体分散系稳定性的重要指标，Zeta电位（正或负）越高，体系越稳定。Zeta电位表征的是粒子之间的排斥力。由于大部分的水相胶体体系是通过粒子之间的静电排斥力来保持稳定的，粒子之间的排斥力越大，粒子越不容易发生聚集，胶体也会越稳定。NICOMP 380 Z3000结合了动态光散射技术（DLS）和电泳光散射法（ELS），实现了同机测试纳米粒子分布和Zeta电势电位。
应用行业：磨料、化学机械抛光液、陶瓷、粘土、涂料、污染监测、化妆品、乳剂、食品、液体工作介质/油、墨水、 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等
自动滴定仪
NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪在增加自动滴定模块后，可以一次性使用同一样品在不同PH值或不同离子浓度的条件下进行一系列测试，实现了在等电点测试的技术难题。
相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术
PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。
NICOMP 380 Z3000 纳米粒径与电位分析仪特点
同机测试悬浮液体的粒径分布以及ZETA电势电位
Zeta电位运用了多普勒电泳迁移原理以及zui新的相位分析散射法可以测试水相和有机相的样品
检测范围宽广，亚微米颗粒均可以被检测
样品测试量小
高辨析率
结果重现性好，误差小于1%
99% 样品可回收li用
可搭载自动滴定仪, 自动稀释器和自动进样器
无须校准
一次性进样，避免交叉污染样品
可选配大功率激光发生器以及jun品级APD雪崩二极管检测器来检测粒径小于1nm的颗粒
技术参数：
粒径检测范围 | 粒度分析：0.3 nm - 10 μm |
Zeta电位检测范围 | 粒度0.3 nm-100 μm |
分析方法 | 粒径：动态光散射，Gaussian 单峰算法和 Nicomp 无约束自由拟合多峰算法； 电位：电泳光散射(ELS)技术和相位分析光散射法 |
pH值范围 | 2 - 12 |
温度范围 | 0℃ - 90 ℃ |
激光光源（可选） | 5 mW氦氖光源； 15 mW, 35 mW,50 mW激光光源； 100 mW激光光源（红）； 20 mW，50 mW，100 mW激光光源（蓝/绿） |
检测角度（可选） | 90°或 多角度（10°- 175°，可选配） |
检测器（可选） | PMT（光电倍增管）， CMP（4倍增益放大） APD雪崩二极管（7倍增益放大） |
高浓度样品背散射 | 175°背散射 |
可用溶剂 | 水相,绝大多数有机相 |
样品池 | 标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）； 1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，zui小进样量10μL） |
选配模块 | 高浓度背散射；自动稀释模块，自动进样器，多角度检测器，高能激光发生器，高增益检测器，21CFR PART11规范软件，在线模块。 |
分析软件 | Windows 兼容软件； 符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选） |
验证文件 | 有 |
电压 | 220 - 240 VAC，50Hz 或100 - 120 VAC，60Hz |
计算机配置要求 | Windows XP及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，1G内存，光驱，USB接口，串口（COM口） |
外形尺寸 | 56 cm * 41 cm * 24cm |
重量 | 约26kg（与配置有关） |
电泳光散射法（ELS）与粒子的动电（Zeta）电位：
ELS 是将电泳和光散射结合起来的一种新型光散射。它的光散射理论基础是 准弹性碰撞理论，只是在实验时在式样槽中多加一个外电场，带电粒子即以固定 速度向与带电粒子电性相反的电极方向移动，与之相应的动力光散射光谱产生多普勒漂移，这一漂移正比于带电粒子的移动速度，因此实验测得谱线的漂移，就 可以求得带电粒子的电泳速度，从而求得ζ-电位。
相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术
PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。
动态光散射原理
Nicomp 380纳米粒径分析仪采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理来获得范围在0.3 nm到10 μm的胶体体系的粒度分布。DLS是通过一定波长的聚焦激光束照射在悬浮于样品溶液的粒子上面，从而产生很多的散射光波。这些光波会互相干涉从而影响散射强度，散射强度随时间不断波动，二者之间形成一定的函数关系。粒子的扩散现象（或布朗运动）导致光强不断波动。光强的变化可以通过探测器检测得到。使用自相关器分析随时间而变的光强波动就可以得到粒度分布系数（Particle size distribution, PSD）。单一粒径分布的自相关函数是一个指数衰减函数，由此可以很容易通过衰减时间计算得到粒子扩散率。zui终，粒子的半径可以很容易地通过斯托克斯（Stokes-Einstein）方程式计算得到。
如下是Nicomp 380纳米粒径分析仪的检测原理简图：
大部分样品一般都不均匀，往往会呈现多分散体系状态，即测出来的粒径正态分布范围会比较大，直观的呈现是粒径分布峰比较宽。自相关函数是由多组指数衰减函数综合组成，每一个指数衰减函数都会因指数衰减时间不同而存在差异，此时计算自相关函数就变得不再简单。
Nicomp 380纳米粒径分析仪巧妙运用了去卷积算法来转化原始数据，从而得出zui接近真实值的粒度分布。Nicomp 尤其适合测试粒度分布复杂的样品体系，li用一组*的去卷积算法将简单的高斯正态分布模拟成高分辨率的多峰分布模式，这种去卷积分析方法，即得到PSS粒度仪公司的粒径分布表达方法—Nicomp分布（Nicomp Distribution）。
有些仪器的高斯分析模式可以使用基线调整参数的功能，以此来补偿测试环境太脏而超出仪器灵敏度的问题。高斯分析模式也可以允许使用者“固体重量模式”或者“囊泡重量模式”来分析带有小囊泡的胶体体系，比如脂质体。
Nicomp分析方法是一种专li的高分辨率的去卷积算法，它在1990年提出并应用于分析和统计粒径分布。在历已经证明Nicomp分析方法能够精确分析非常复杂的双峰样品分散体系（比如 2：1比例），甚至是三峰样品分散体系。在科学研究中，找到粒子聚集分布的杂峰是非常有用的。
NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪广泛适用于检测悬浮在水相和有机相的颗粒物。
