全反射X射线荧光分析仪

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TXRF 全反射X射线荧光分析仪

型号
TXRF

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           北京普析通用仪器有限责任公司创立于1991年,是从事科学仪器研制、开发、生产的高科技企业。现有职工500多人,其中科技人员占职工总数的三分之一。经过十余年的艰苦奋斗和不断创新,现已成长为同行业的企业。产品包括光谱分析仪、色谱分析仪、水质分析仪等几大系列数十种产品,从单光束-T6,TU-1800-1900-1901-1950双光束紫外可见分光光度计、原子吸收分光光度计、血液元素分析仪,在线水质分析仪、快速便携式水质分析仪、砷形态分析仪到X射线衍射仪、X射线荧光分析仪等齐全的产品群,并开发出拥有自主知识产权的系列分析测试软件。2003年普析通用被中国企业评价协会评为“中国500家成长型中小企业”。2004年先后被中国新闻社评价中心评为“中国*竞争力中小企业500强”;被中国中小企业合作协会、国家*工业交通统计司评为“中国制造业1000家*成长性中小企业”;被北京市*评为*北京市“守信企业”。普析通用仪器有限公司自创业以来,始终秉怀科技服务社会的理念,坚定不移地树立和落实科学发展观,不断钻研行业、满足社会需求的科学技术,全力开发满足各领域需求的高质产品,在业界拥有良好的声誉。2001年起,公司承担国家十五科技攻关计划重大项目“科学仪器研制与开发”中“光谱仪器的研制与开发”课题,于2004年2月顺利通过*验收,2004年公司又通过招标的方式承担了*“十五”攻关滚动计划《科学仪器的研制与开发》项目 “分析仪器产业化应用示范”课题 。体现了坚持科技创新和“对社会有长期贡献”的企业理想。全面的科学管理、*的研究技术以及严格的控制标准,保证了研制生产出高品质的产品,具有强大的市场竞争力。普析通用公司在中国分析仪器行业中通过ISO9001质量体系认证、ISO14001环境体系认证和CE认证。紫外可见分光光度计、原子吸收分光光度计和水质连续自动监测系统多次获得BCEIA金奖。紫外可见分光光度计和原子吸收分光光度计被中国贸易促进会评为“中国进入WTO推荐产品”。水质连续自动监测系统获得北京市科技进步二等奖和*、外经贸部、环保总局等五部局颁发的国家重点新产品证书,普析通用公司也是参加环保总局的流域及污染源试点的*国内厂家。普析通用公司在新的发展起点上系统地引入现代管理模式,建立与接轨的基于科学仪器行业的管理体系。实施了CRM、ERP、PDM项目,引入科学化、现代化、信息化的管理系统,在产品开发、质量控制、集成供应链、人力资源管理、财务管理等诸多方面取得长足发展。2001年普析通用成为中国仪器仪表行业协会分析仪器专业协会副会长单位,被北京市经济委员会、北京市*确定为北京市*重点联系民营企业。2002年普析通用公司荣获“科技之光”优秀企业称号,田禾总经理获得“科技之光”优秀企业家称号。2003年普析通用公司又成为国家高技术研究发展计划(863计划)“水质自动监测系统关键技术及集成设备研制”课题的承担单位之一。2005年田禾总经理荣获“北京市劳动*”称号,这些成绩和荣誉的取得都标志着普析通用公司在广泛吸收*科技成果的同时,已经大步迈出了独立自主开发相关领域核心技术体系的步伐,并且获得了良好的经济和社会效益。在提供高质产品的同时,普析通用公司还竭诚为用户提供优质完备的售后服务。建立了具备化水平的系统的技术应用硬件装备实验室。在原有五个贸易大区的基础上,2004年又建立了27个省级分支机构,形成了覆盖全国的快速服务系统,以尽心尽责的服务理念和完备的技术得到了客户的*称赞。在牢固占据国内市场优势的同时,公司还大力扩展海外市场,产品销往德国、美国、韩国以及东南亚、中东等国家和地区,并在英国建立了欧洲分公司。在新的发展征途上,普析通用人将继续以勤谨务实的态度致力于中国分析仪器事业的发展,精心打造开放式的科研开发平台、开放式的工业化设计平台、现代化的制造平台、网络化的市场服务平台,坚定不移地走科技创新之路,以优质的产品和优良的服务回报社会,不断为促进社会经济的发展、提高人民生活质量而努力!

 

详细信息

1.全反射X射线荧光分析仪介绍

全反射X荧光(TXRF)分析技术是近年来才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF利用全反射技术,使样品荧光的杂散本底比X荧光能量色散谱仪(EXRF)本底降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏度,避免了XRF测量中通常遇到的本底增强或减弱效应;同时TXRF技术又继承了EXRF方法的*性,成为一种不可替代的全新的元素分析方法。该技术被誉为在分析领域是有竞争力的分析手段、在原子谱仪领域内处于地位。
在X荧光谱仪范围内,与波长色散谱仪(RF)方法比较,由于TXRF分析技术用样量很少,也不需要制作样品的烦琐过程,又没有本底增强或减弱效应,不需要每次对不同的基体做不同的基体校准曲线。另外由于使用内标法,对环境温度等要求很低。因而在简便性、经济性、用样量少等方面,都比RF方法有明显的*性。
TXRF技术可以对从氧到铀的所有元素进行分析,一次可以对近30种元素进行同时分析,这是原子吸收谱仪中的ETAAS和FAAS方法难以做到的。与质谱仪中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析(NAA)等方法相比较,TXRF分析方法在快速、简便、经济、多元素同时分析、用样量少、检出限低、定量性好等方面有着综合优势。
TXRF元素分析仪在元素分析领域内的应用现状和发展前景都是令人鼓舞的。它可以广泛应用于地矿、冶金、化工、食品、生物、医药、环保、法检、考古、高纯材料等等各领域内的常量、微量、痕量元素分析测定。特别在半导体工业中的硅片表面质量控制方面,有着不可替代的优势,目前已在上得到广泛应用。

2.全反射X射线荧光分析仪技术参数
1.地矿:金矿、铜精料和镍精料、萤石、长石、氧化锑 ;
2.冶金:镍电解液、铜阳极泥、高冰镍中的贵金属、光谱Rh、金银首饰、铸铁、轴承 ;
3.化工:柴油中的硫含量,各种催化剂,陶瓷釉药;
4. 环境保护 :自来水、大气飘尘、污水污泥;
5.生物:海洋动物牙齿和体液 ;
6.医药:头发和指甲中的有益有害元素,丹参中有害微量元素 ;
7.食品:饮料中有益和有害元素 ;
8.刑侦法医:撞车现场样品鉴定 。

3.应用范围

1、多元素同时分析:一次可分析近30种元素;

2、检出限低:zui低检出限:pg级(10-12);zui低相对检出限:ng/mL级(10-9);

3、测量元素范围广:可以从11号元素Na到92号元素U;

样品用量少, μL、μg级;

4、粉末样品、悬浮液样品、有平面的固体都可直接进行分析,zui低检出限达到ng/g量级。

5、可以进行无损分析,也可进行无标样分析;

6、测量时间短:一般在10秒-1000秒;

7、输入功率:小于500W;

8、自动化程度高,操作方便。


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