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涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100
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北京吉品时代科技有限公司是一家专业代理国内外优质检测仪的公司,公司拥有行业内经验丰富的技术人员与专业化销售团队,客户遍布各个领域,主要代理产品有美国MARK-10测力计,美国FUTEK拉压力传感器,意大利AEP扭矩校准仪,德国EPK涂层测厚仪,德国KK超声波测厚仪,英国易高涂层测厚仪,英国泰勒粗糙度仪,北京时代全系列产品(里氏硬度计,布氏硬度计,涂层测厚仪,超声波测厚仪,探伤仪,拉压试验机)试验机系列在深入自主研发、推动*技术国产化的发展思路下,公司不断在开发成本大力投入坚持走合作和自主研发并举的道路,发展成为中国的检测仪器供应商及民族品牌的生产制造商。
详细信息
涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100
| 型号 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST 存储的数据量 | ||||
| 应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计，可设宽容度极限值) | - | 1 | 10 | 99 |
| 可用各自的日期和时间标识特性的组数 | - | 1 | 500 | 500 |
| 数据总量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
| MINITEST统计计算功能 | ||||
| 读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar | - | √ | √ | √ |
| 读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
| 组统计值六种x,s,n,max,min,kvar | - | - | √ | √ |
| 组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
| 存储显示每一个应用行下的所有组内数据 | - | - | - | √ |
| 分组打印以上显示和存储的数据和统计值 | - | - | √ | √ |
| 显示并打印测量值、打印的日期和时间 | - | √ | √ | √ |
| 其他功能 | ||||
| 透过涂层进行校准(CTC) | - | √ | √ | √ |
| 在粗糙表面上作平均零校准 | √ | √ | √ | √ |
| 利用计算机进行基础校准 | √ | √ | √ | √ |
| 补偿一个常数(Offset) | - | - | √ | √ |
| 外设的读值传输存储功能 | - | √ | √ | √ |
| 保护并锁定校准设置 | √ | √ | √ | √ |
| 更换电池是存储数值 | √ | √ | √ | √ |
| 设置极限值 | - | - | √ | √ |
| 公英制转换 | √ | √ | √ | √ |
| 连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别zui大zui小值 | - | - | √ | √ |
| 连续测量模式中测量稳定后显示读数 | - | - | √ | √ |
| 浮点和定点方式数据传送 | √ | √ | √ | √ |
| 组内单值延迟显示 | - | √ | √ | √ |
| 连续测量模式中显示zui小值 | √ | √ | √ | √ |
可选探头参数
所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
| 探头 | 量程 | 低端 | 误差 | zui小曲率 | zui小测量 | zui小基 | 探头尺寸 | |
| 磁 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
| F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x170mm | |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
| F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
| F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
| 两 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm |
| FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm | φ21x89mm | |
| FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm | |
| 电 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
| N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
| N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x170mm | |
| N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
| N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
| N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
| CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 无限制 | φ17x80mm | |
| 注： | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。 N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。 CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。 |
探头图示
 | FN1.6 0～1600μm,φ5mm 两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 两用测头， 特别适合测粉末状的覆层厚度 |
 | F05 0～500μm,φ3mm 磁性测头，适于测量细小钢铁物体的薄覆层，如金属镀层，氧化层等 量程低端分辨宰很高(0.1μm) |
 | F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性测头 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | F3 0～3000μm,φ5mm 磁性测头 可用于较厚的覆层 |
 | F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性测头 尤其适合于在管内壁测量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | F10 0～10mm,φ20mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等 |
 | F20 0～20mm,φ40mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等 |
 | F50 0～50mm,φ300mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层 |
 | N02 0～200μm,φ2mm 非磁性测头，尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层 |
 | N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性测头，适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性测头，适于测量较薄的绝缘覆层 尤其适合在管内壁测量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | N10 0～10mm,φ50mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
 | N20 0～20mm,φ70mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
 | N100 0～100mm,200mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
 | CN02 10～200μm,φ7mm 用于测量绝缘材料上的有色金属覆层，如覆铜板 |
