1.  应用范围：

用于物相定性、定量、结晶度、晶粒大小、微观应力、点阵参数测定、界孔材料、薄膜材料物相分析等。

2．概 述

APD2000 X射线粉末衍射仪,是GNR公司推出的新一代X射线粉末衍射仪，采用大功率X射线发生器，石英射线管、铜靶、标准的长细焦点，输出功率可达3KW，采用高速读取的测角仪、光学编码器配合步进电机可获得精que地角度值，可在水平和垂直的方向上完成角度测量，采用新一代的闪耀计数器，可胜任定性和定量分析工作。
        

3.  技术规格

3.1 X射线发生器    

  3.11 输出功率：  3 KW(可选配4 kW)

  3.12 输出稳定性：    < 0.01 % ( 10%电压波动)

  3.13 输出电压：  60kv

  3.14 输出电流 :   60A(可选配80A)

  3.16 电压步宽：      0.1kV

  3.17 电流步宽：      0.1mA

  3.18 输入电压:        230 Vac(±10%), 50/60 Hz, 单相

3.2 X射线管

  3.21 类型：石英（可选陶瓷），铜靶（任何X射线管可选配），

  3.22 焦点：长细焦点0.4 x 12 mm LFF (可0.4 x 8 mm 细焦点;1 x 10 mm 标准焦点;2 x 12 mm长宽焦点)

  3.23 输出功率：3.0KW

3.3 测角仪Kα

  3.31配置：             垂直或水平θ/2θ

  3.32检测直径：          350-400mm

  3.33垂直扫描角度范围：  - 60° < 2θ< + 168°(取决于所选附件)

  3.34:水平扫描角度范围：  - 110° < 2θ< + 168°(取决于所选附件)

  3.35测量角精度：         ± 0.0001°

  3.36最小选择步数：      0.0001°

  3.37操作模式：           连续扫描、步进扫描、θ/2θ扫描、快速扫描、θ轴向震动

  3.37可变发散狭缝：       0 - 4°

  3.38可变防散射狭缝：     0 - 4°

  3.39梭拉狭缝：          0 - 4°

3.4 检测器

  3.41 类型:            *闪烁计数器,(f可选YAP (Ce）,抛光硅CCD检测器)

  3.42 计数方式：     2 x 106 cps (Nal)， 2 x 107 cps (YAP(Ce))

3.5 控制软件

  3.51 数据采集程序

        GNR提供了强大的数据采集程序，可以适用于标准配，同时适用于自定义配置。

        软件可以应用在粉末、高分辨率衍射仪、残留马氏体、应力（平面和三轴）和薄膜分析。程序可以控制X射线发生器、准直器、多用途样品台、闪耀计数器、阵列检测器、固态检测器、高低温度和其他器件。

3.52 SAX

       可以进行单峰分析、峰值处理、背景差减，平滑，反褶积和峰值定位。结构分析，晶体尺寸，晶格应变，反射的定性和定量分析。