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日本nanogray X射线测厚仪SX-1100
- 型号
- 参数
- 测量范围:1 类型:塑料
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详细信息
日本nanogray X射线测厚仪SX-1100
测厚仪（薄膜测厚仪）使用软X射线（soft X-rays）。以非接触方式（软 X 射线）测量片材和板状物体的厚度和密度（基重）。不是直接测量厚度，而是通过与参考物质比较来计算厚度和密度（基重）。
通常，为了测量片材宽度方向的厚度分布，检测系统由扫描仪携带进行测量。激光位移计一般用作非接触方式测量厚度的手段，但如果激光位移计安装在扫描仪上，在运输过程中只能以远低于激光位移计的精度进行运输, 导致结果. 高精度测量是困难的。
另一方面，在X射线测厚仪等通过透射衰减估算厚度的方法中，测量的是空气层-样品-空气层与透射之间的衰减，但样品的衰减远大于，传输的影响只表现为空气层厚度的变化，影响很小。因此，可以高精度地进行测量。
软X射线测厚仪的一般特点
无需规定辐射处理负责人或X射线工作负责人或设置控制区域
（需要通知劳动标准检查办公室）路径错误可以忽略
高元素依赖性
与传统的软 X 射线测厚仪相比，我们的软 X 射线测厚仪的特点
探测器和 X 射线源结构紧凑、重量轻，甚至可以安装在狭窄的线路中。
测量范围广（材料/厚度）
用途
铜箔、铝箔、不锈钢箔
电池电极
陶瓷（薄片、晶片）
玻璃纤维布
日本nanogray X射线测厚仪SX-1100
X射线测厚仪SX-1100规格 | |
| 物品 | 规格 |
|---|---|
| 姓名 | X射线测厚仪SX-1100 |
| 测量方法 | X射线透射法 |
| 检测方法 | 闪烁探测器法 |
| 测量对象 | 根据薄膜、箔等测量对象进行优化设计 |
| 测量间距 | 标准2mm（也可提供更细间距） |
| 扫描宽度 | 标准150-3000mm（也可提供其他宽度） |
| 扫描速度 | 15-200 毫米/秒（标准） |
| 框架结构 | O型及其他各种车架 |
| 光斑尺寸 | 约φ7.5mm（标准）（工作中） |
| X射线源 | 70 x 83 毫米 x 250 毫米（标准） |
| 检测单元 | 70 x 83 毫米 x 220 毫米（标准） |
| 电源 | 100V单相1kVA |
