斯派克ARCOS型全谱直读等离子体发射光谱仪 - 产品详情
斯派克ARCOS型全谱直读等离子体发射光谱仪简介
具采用的密封充气紫外光学系统和OPI水平观测等离子光学接口完成消除水平观测时尾焰的影响、全谱CCD技术和多视角等离子体定位等新技术,有高灵敏度、高精度以及波长范围宽(130nm-770nm) 等特性,在ICP-OES 领域开拓了全新的应用,可分析包括ppm级卤素在内的73个金属和非金属元素。
斯派克ARCOS型全谱直读等离子体发射光谱仪主要特点
1.一维色散+32个CCD检测器设计,检测器无需超低温冷却,无需氩气吹扫保护
2.全波长覆盖,为130-770nm的波长范围,可以分析ppm级卤素
3.密闭充氩循环光路系统,检测190nm以下谱线,无需气体吹扫
4.3秒实现真正全谱数据采集,分析速度
5.所有气体流量采用质量流量计计算机控制,矩管位置3维步进马达计算机控制自动化程度高
斯派克ARCOS型全谱直读等离子体发射光谱仪技术参数: 光学系统
焦距:0.75米
光谱范围:130nm – 770nm
光栅:三光栅
- 3600线/毫米 (130nm – 175nm)
- 3600线/毫米 (175nm – 340nm)
- 1800线/毫米 (340nm – 770nm)
光谱级次:全波长一级光谱
32个线性CCD连续 排列在罗兰圆上
每个CCD的像素数:3648
分辨率:8.5pm (恒定不变)
光室密闭充氩,无需吹扫(驱气)和抽真空
光室恒温: 15℃ ( 0.1 ℃)
- 开机即可使用
- 测量130nm – 190nm波段方便快捷
信号检测与读出系统
32个线性阵列CCD
工作温度:15 ℃ ( 0.1 ℃),无须制冷,
无须吹扫保护性气流
超高速数据读取:双CPU,平行数据读出
*的动态范围:108
最短积分时间:0.1ms
可进行瞬时信号的测量:与LC、HPLC等联机成为真正可能
决无“溢出”现象
长寿命
等 离 子 体
自激式固态发生器和电源
频率:27.12MHz
功率:750 - 1700W
功率稳定性:<0.1%
风冷
全自动控制,功率连续可调
耦合效率高
等离子体观测方式
1、等离子体水平放置,轴向观测
可有效提高仪器的灵敏度10倍,尤其对于激发电位较低的元素,如:Zn、K、Na
的OPI技术
冷锥冷却方式:水冷,冷却效率高
计算机全自动控制冷锥与等离子体
的相对位置
氩气反吹,在保证远紫外波段的光
效率前提下,冷锥和光路(包括透
镜)无污染的可能
2、等离子体垂直放置,径向观测
等离子体垂直放置优点:
不会烧炬管
减少基体干扰
减少进样系统冲洗时间
实验成本降低
分析速度快
缺点:
对于激发电位较低的元素,如:Zn、K、Na
等灵敏度不够
针对不同用户的使用习惯和测试需求,可提供
SPECTRO ARCOS SOP(垂直炬管)
SPECTRO ARCOS EOP(水平炬管)
进样系统
四通道蠕动泵
泵速:0 ~70 RPM
连续可调
实时在线内标加入
在线稀释
耐强酸、碱等腐蚀性液体
随机附带大容量、自动报
警的废液回收器
软 件
多语言(包含中文)视窗化操作软件及手册
一键导航式操作流程,清晰、简便,易学、易用
全谱谱图自动存储,记录样品“指纹”,可进行“追忆”分析,无须保留样品和费时、
费力的再次测量
实时内标测量
定性、半定量全谱测试,可鉴别未知样品,进行“盲样”分析
可对谱图进行叠加、差减,精确消除溶剂、器皿等所引入的空白与污染误差
内置NIST标准谱库,可自动进行谱线干扰识别和校正
智能逻辑校正( ICAL)系统,可持续监控仪器的工作状况并自动校准,
确保仪器在状态下运行
的智能背景校准(Smart Background Correction),扣除真实背景,消除误
差,分析结果准确
扣除背景的方式灵活多样
同时、实时扣除背景
单点或双点
背景曲线拟合
的智能背景扣除(Smart Background Correction)
背景扣除真实可靠、简单实用
可在分析完成后更改背景扣除点或背景扣除方式,无须重新分析样品,减
轻操作人员的工作量