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介质损耗因数和正切角测试仪
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北京航天伟创设备科技有限公司是一家检测仪器行业的*股份公司，注册资金3000万。公司致力于各类试验仪器的研发、生产、制造及销售，并拥有自主研发软件的专业团队，核心成员均具有精密试验仪器和材料检测行业背景。
公司自创建以来，不断吸纳行业内优秀人才，形成一支具有丰富经验的研发队伍，目前已拥有强大的自主研发和创新能力，在充分保证产品质量的前提下，不断改进和完善，及时应用新标准、新技术，使产品始终处于行业lingxian地位。
公司现有电性能测试系列设备、机械物理性能测试系列、燃烧测试系列、试验机系列、试验箱系列、通用分析仪器系列等多个系列近百种产品。公司生产的试验仪器和检测设备均符合GB、JB、JG、IEC、ASTM等国内标准、行业标准和guoji标准要求。
公司坚持“航天品质，服务zhishang”的理念，以用户需求和前沿技术驱动创新，推动检测仪器行业发展，为广大用户提供更优质、可靠的产品！
详细信息
Φ
LDJD-B 介质损耗因数和正切角测试仪
一、LDJD-B 介质损耗因数和正切角测试仪 适用标准
GB/T 1693-2007 《硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法》
LDJD-B型介质损耗因数测试仪适用于10kHZ-110MHZ下固体电气绝缘材料的电容率和介质损耗因数（需要测液体介电常数和介质损耗因数请与我司联系）
二、主要参数
1.信号源频率覆盖范围10kHz～110MHz
2.环境温度：0℃～+40℃；
3.消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
4.主电容调节范围：30～540pF
5.电容直接测量范围：1pF～2.5uF
6.Q值测量范围：1～1023，Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；
7.S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：
数显式微杆
平板电容器：
极片尺寸： Φ50mm/Φ38mm可选
极片间距可调范围：≥15mm
夹具插头间距：25mm±0.01mm
夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
测微杆分辨率：0.001mm
测试极片：材料测量直径Φ50mm/Φ38mm可选 厚度可调 ≥ 15mm
*液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（测量液体介电常数请与我司联系）
8. 主机尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280
三、术语和定义
1.介质损耗角δ dielectric loss angle
由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。
2.介质损耗因数 tanδ dielectric dissipation factor
损耗角δ的正切。
3.〔介质〕损耗指数 εr [dielectric] loss index
该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积。
四、影响介电性能的因素
下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。
1 频率
因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。
电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。
2 温度
损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。
3 湿度
极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是*的。
注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。
4 电场强度
存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。
在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。
