荧光寿命分析仪(SHDROID-FLA-T01)

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荧光寿命分析仪(SHDROID-FLA-T01)

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详细信息

  • 波长可自动设置;
  • 可选配自动调节狭缝;
  • 荧光寿命32ps-31.2s;
  • 系统无需校准;
  • 自带计算机及分析软件;
  • 模块化设计,方便升级。
  • 发光材料分析;
  • 生物分子荧光分析;
  • 材料荧光光谱分析;
  • 拉曼光谱分析;
  • 元素分析;
  • 光学器件分析;
  • 粒子特征分析;
  • 荧光寿命分析;
  • 测量模式:TCSPC(时间相关单光子计数);
  • 测量精度:32ps-500us,可通过软件设置;
  • 时间通道个数:1000-65000,可通过软件设置;
  • 数据获取:获取时间32ns—31.2s;通道数量1000—65000个;抖动时间小于11ps;
  • 激发源:可选配皮秒或纳秒激光器激发源或电脉冲激发源;
  • 检测器特性:单光子计数探测器;PMT响应范围300nm—700nm,暗计数50cps;可扩 展至870nm;或SPAD响应范围350nm-1060nm;
  • 荧光波长选择:通过单色仪自动调整,最小步进精度0.0045nm;
  • 数据分析:最小二乘法拟合,可获得荧光寿命等信息,可选择输出原始数据;
  • 操作系统:Window10;
  • 工作温湿度:-20°C to + 40°C / 小于 80%;
  • 存储温湿度:-20°C to + 80°C / 小于85% 。

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