丞普诺仪器（苏州）有限公司主营产品有：视频接触角测定仪、张力仪、水滴角检测仪、表、界面仪器的设计与开发、模具保护监视器、视觉类等检测仪器的定制与开发。

　　镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。

　　X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

　　X射线膜厚仪采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点。高分辨率探头使分析结果更加。良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。

　　镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

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