按键式可编程恒温恒湿试验箱又名高低温交变湿热试验箱,该设备采用的韩国三元TEMI300控制器,可自动循环,自动转换温湿度条件,自动开关机,可编程100组,每组10段,共1000段试验条件。可实现的试验条件包括:高温,低温,高低温恒温,高低温循环,湿热,湿热恒定,湿热交变,高温低湿,低温高湿,高温高湿等功能。用于测试各类产品及材料在不同温湿度环境下使用及储存时的适应性能。
按键式可编程恒温恒湿试验箱主要用来测试LED半导体、LED光电、LED照明、LED灯柱、LED电源、LED模组、LED模块、LED显示屏、LED灯泡、LED日光灯、LED芯片、LED电视、LED显示器、LED数码管、LCD、LCD模组、LCD液晶屏、LCD触摸屏、LCD显示器、PCB、PCB电路板、PCB线路板、FPC、电子、电工、电器、光电、光伏、光纤、电容器、电阻、电脑、电线、电缆、通讯设备、太阳能组件、电子产品、电子元器件、通讯、数码产品、塑胶、橡胶、化工、涂料、油墨、油漆、医药、建材、汽车、胶粘、印刷、陶瓷、五金、航空、航天、、高分子材料、合成材料行业。
按键式可编程恒温恒湿试验箱满足标准:
中国国家标准,GB/T 2423.1-2001 低温
中国国家标准,GB/T 2423.2-2001 高温
中国国家标准,GB/T 2423.3-1993 恒定湿热试验方法
中国国家标准,GB2423.34-86 温湿度组合循环试验
中国国家标准,GB/T2423.4-93方法
中国国家环境试验设备方法,GJB150.9-8 湿热试验
美国标准,MIL-STD-810F-507.4 湿度
美国标准,MIL-STD-810F-501.4 高温
美国标准,MIL-STD-810F-502.4 低温
美国标准,MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验
美国标准,MIL-STD810D方法502.2
美国标准,MIL-STD810方法507.2程序3
美国半导体行业标准,JESD22-A101-B-2004 恒定温湿度试验
美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验
美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验
日本工业标准,JIS C60068-2-3-1987 试验Ca:湿热、稳态
日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热
日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温
国际电工委员会标准,IEC68-2-03_试验方法Ca_稳态湿热
国际电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷
国际电工委员会标准,IEC68-2-02_试验方法B_干热