Black-wave凹面光栅光纤光谱仪

首页>分析仪器-热搜分类>光谱仪>光纤光谱仪

Black-wave Black-wave凹面光栅光纤光谱仪

型号
Black-wave

该企业相似产品

光谱仪、光谱测量系统、太阳电池检测系统、LED测量仪器、电控精密位移台、手动精密位移台、光学调整架、光学平台、光学元件

详细信息

产品概述

Black-wave 凹面光栅光纤光谱仪
凹面光栅式设计,内部无过多的光学元器件,很大程度上降低杂散光(0.02% at 435 nm; 0.2% at 200 nm)。波长范围190-900nm,适用于荧光和低杂散光实验要求。
 
■ 凹面光栅设计,用于UV/VIS/NIR应用
■ 减少表面光折射
■ 平滑光栅降低光散射
■ 紫外灵敏度增强
■ 同一分辨率
■ 减少偏差(散光,球面像差)
■ 极大的减少光谱仪中杂散光,获取光谱曲线
 
规格参数
动态范围: 2000:1 with 6 decades 尺寸: 69 x 100 x 150 mm
光学分辨率: see above 功率: 100 mA @ 5 VDC
探测器类型: 2048 pixel CCD, PDA opt. 接口: USB-2
探测器范围: 200-1080 or 220-1100 nm 数据传输速度: 3x / 40x faster than USB-1
像素尺寸: 14 um x 200 um 积分时间: 1 ms to 65 s
凹面光栅: Aberration corrected 狭缝选择: 14, 25, 50, 100, 200 um
光栅类型: Holographic, 590 g/mm 杂散光: 0.02% at 435 nm; 0.2% at 200 nm
光学平台: f/2, Flat field - No mirrors 光纤输入: SMA905 0.22 na single fiber
A/D转换: 16-bit 操作系统: Windows XP/Vista/7
信噪比: 1000:1 CCD, PDA 2000:1 软件: SpectraWiz program & apps

标准型号
BLACK Comet Wavelength Range(nm) Grating g / mm Slit-200nm res. Slit-100nm res. Slit-50nm res. Slit-25nm res. Slit-14nm res.
BLK-C 190-850 590 6.0 3.0 1.5 0.85 0.75
BLK-CXR 280-900 590 6.0 3.0 1.5 0.85 0.75
BLK-C-SR 200-1080 concave 8.0 4.0 2.0 1.5 1.3
BLK-CXR-SR 220-1100 concave 8.0 4.0 2.0 1.5 1.3

高分辨率型号
BLACK-Comet model Wavelength Range (nm) Grating g / mm Slit-14 nm res.
BLK-C-HR-UV 200-600 590 0.40
BLK-C-HR-VIS 380-750 590 0.40
 
 

同类产品推荐

相关分类导航

产品参数

在线询价 在线询价
您的留言已提交成功~

采购或询价产品,请直接拨打电话联系

联系人:采购部

联系方式:
温馨提示

该企业已关闭在线交流功能