CH-12.7-STSX数显千分薄膜薄片测厚仪

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CH-12.7-STSX CH-12.7-STSX数显千分薄膜薄片测厚仪

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CH-12.7-STSX
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详细信息

详情介绍:
CH-12.7-STSX数显千分薄膜薄片测厚仪

名 称:
千分数显塑料簿膜薄片台式测厚仪
分 度 值:
0.001mm
测量范围与准确度:
0mm~12.7mm ≤0.005mm
主要用途:
适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(大测量深度为80mm)
执行标准:
GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979











CH-12.7-STSX数显千分薄膜薄片测厚仪名称:千分数显塑料簿膜薄片台式测厚仪

分度值:0.001mm

测量范围与准确度:0mm~12.7mm ≤0.005mm

主要用途:适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(大测量深度为80mm)

执行标准:GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979

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