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美国APogee DLI-400光合有效辐射计
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美国APogee DLI-400光合有效辐射计用于测量400-700nm的光合有效辐射(PAR)，是一种低成本的选择，仅在阳光和某些宽带光源下准确。除了测量PAR，DLI-400仪表还计算日光积分(DLI)和光周期。
美国APogee DLI-400光合有效辐射计产品简介：
Apogee的新型DLI-400仪表设计用于测量400-700nm的光合有效辐射(PAR)，是一种低成本的选择，仅在阳光和某些宽带光源下准确。可以应用测量后校正因子来提高光源下的精度。除了测量PAR，DLI-400仪表还计算日光积分 (DLI)和光周期。DLI是指24小时内飞机上入射的PAR或扩展PAR(ePAR)的总量，单位为摩尔每平方米每天(molm-2 d-1)。光周期是24小时内PAR或ePAR在飞机上的总时间量，以小时 (h)为单位表示。DLI和光周期都会影响植物的生长和发育，它们通常在温室和生长室中进行测量，以帮助进行光照管理和决策。
DLI-400仪表有两种不同的屏幕模式：存储数据和实时取景数据。在存储数据屏幕中，它会显示DLI测量值、光周期以及收集数据的日期(*多99天前)。实时取景数据屏幕显示过去2.5秒的PPFD运行平均值。
DLI仪表由铸造丙烯酸扩散器(滤光片)、滤光片、光电二及管、信号处理电路和安装在ASA塑料外壳中的LCD显示器组成。DLI仪表设计用于PPFD或ePPFD的单次或连续测量;DLI和光周期。DLI仪表使用USB-C电缆(仪表随附)将存储的数据以CSV文件的形式下载到计算机。
美国APogee DLI-400光合有效辐射计产品特点：
光合有效辐射(PAR)或延长PAR(EPAR)测量
记录并显示99天的：日光积分(DLI)、光周期为0.1小时
在屏幕上查看数据或通过USB-C端口下载
¼20螺纹安装端口，用于普通相机三脚架等
坚固耐用，防溅
科学等级准确性
中科汇仪网专业进口检测仪器供应商，为您提供检测仪器解决方案，您可在.cn了解更多的产品介绍，也可通过致电我司销售工程师咨询产品详细参数、价格、及使用方法。
美国APogee DLI-400光合有效辐射计技术参数：
校准准确度：±5%
测量重复性：小于0.5%
测量范围：0至4000µmol mˉ² sˉ¹
长期趋势：每年少于2%
视野：180°
光谱测量范围 (±5nm)：370至650nm(限于阳光)
方向(余弦)响应：±5%在75˚ 天顶角
温度响应：-0.04%每摄氏度
响应时间：2.5秒
测量频率：3分钟
数据记录容量：99天(DLI和光周期)，10天(30分钟PPFD/ePPFD平均值)
非线性：小于1%(*高4000 µmol mˉ² sˉ¹)
存储数据分辨率(PPFD)：0.1 µmol mˉ² sˉ¹(≥1000时屏幕不显示小数)
存储数据分辨率(DLI)：0.1 mol mˉ² day⁻¹
存储数据分辨率(光周期)：0.1小时
连接性：通过USB-C数据传输的CSV文件
ADC分辨率：24位
操作环境：-10至60摄氏度;0至 100相对湿度
入口保护：IP65
电池寿命：约6个月
尺寸：1.91宽 x 2.31高 x 0.93长(英寸)
重量：67克
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