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ZYGO 激光干涉仪:Verifire™ MST
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Verifire™ MST激光干涉仪提供了一个的崭新的测量方式和能力,传统的激光干涉仪应用是测量两个面的波前变化,也就是说测量一个 由两个面所形成的腔。
但是,如果所测量的是一个没有经过镀膜的平行平板,则就会产生两个叠加的干涉条纹(三个面的腔所形成),这样就会干扰标准的位相干涉测量分析。
现在,ZYGO的Verifire™ MST激光干涉仪解决了这一个问题,通过波长调制技术和ZYGO新的傅立叶变换方法,可以进行三个甚至四个平行面的测量,不仅可以显示所有的面,并且可以排除其他的面而单独显示你所需要的面。
激光干涉仪可以在你的测量中,只要一次数据采集,就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度,同时还能得到平行平板的光学厚度:
• 前表面形貌图
• 光学厚度变化
• 物理厚度变化和后表面形变
这一技术能够通过两次数据采集得到下列结果:
• 前表面和后表面的形貌图
• 物理厚度变化
• 光学厚度变化
• 折射率变化
- 非线性材料均匀性
- 线性材料均匀性
多表面样品测量快速、简单和质量提升
同时测量表面形变和光学厚度变化
平行平板两侧测量就可以得到其均匀性:
• 不需要涂油就可以进行安全、快速测量
• 两次测量不需要进行调整
新型的线性材料均匀性测量
快速测量,只需要几分钟而不是几个小时