贵金属检测仪XF-S7

前言：

    1、贵金属的稀缺与宝贵，让灰吹法等传统的破坏性检测方法越来越不适用，市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法，而X射线荧光光谱法无非是很好的贵金属无损检测方法。

    2、社会上金银首饰掺假现象时有发生，不论是商家还是顾客都为此蒙受巨大的损失，而西凡科技的金银检测仪可以让金银首饰的真实含量准确呈现，在这种公平公开的市场环境下，自然可以规避交易风险。

    3、金银首饰的掺假现象，让顾客对商家产生了不信任，而商家借助金银检测仪可以将诚信经营的形象展现给顾客。

    4、客户的信任能给珠宝首饰店带来更多的营业收入，从而提升了市场竞争力。当前国内外许多珠宝店都配备有金银检测仪，这也是他们在行业里能保持强大竞争力的原因之一。
 

           面对这些纷繁复杂的商业和社会环境，你有过困惑吗？怎么去改变这些现状呢？怎么让你的企业摆脱困境，赢得顾客的信任，重新焕发生机?

        该款贵金属检测仪XF-S7是西凡西凡仪器2020全新款，一款可以测戒指内圈成分的光谱测金仪器，自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一，是一款配置的全元素检测仪。它配备了进口Fast SDD探测器拥有十多项研发，性能突出，采用进口Fast SDD探测器，搭载ARM Cortex-A53四核处理器，Linux操作系统

产品细节展示

贵金属检测仪XF-S7的外观

贵金属检测仪EXF9900软件界面

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产品优势

性价比高

可以快速准确检测各种贵金属，应用广泛！

无损检测

不会对珠宝首饰等被测样品造成任何损坏。

操作简单智能

一键测试功能，自动化检测无需配备专业人员

检测快速。

秒定性，7秒可得出直观结果。

便于携带

一体化设计，占用空间小，便于携带与管理。

安全耐用

具备反辐射功能，整机寿命超过10年

精准度高

可靠的检测数据。

操作安全

加装防辐射装置，主动保护操作人员安全。

 

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测金仪是如何检测金银纯度的

贵金属检测仪XF-S7的正面结构展示

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选择西凡贵金属检测仪XF-S7的核心特征及优势

可测内圈

    1、一款可检测戒指内圈成分的光谱测金仪；

测试补偿

    2、通过调节摄像头焦距，准确明晰样品的测试部位，并通过距离补偿测试结果；

准确定位

    3、采用松下伺服电机，控制0.3mm准直器准确定位；

微距光管

    4、采用薄Be窗微距点光管，保证测试的准确稳定性；
 

降噪

    5、采用日本风扇及热源分析系统，高度降噪并大大提升仪器的长期稳定性，延长使用寿命；
 

四核处理器+Linux系统

    6、自主研发的工控主板，搭载ARM Cortex-A53四核处理器，采用linux操作系统，带来更好的系统稳定性，提升自定义空间和定制功能；
 

Fast SDD探测器

    7、采用定制进口高分辨率Fast SDD探测器，有效提升检测精准度和仪器的测试稳定性；
 

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技术参数

核心特征：可测戒指内圈+高精确度±0.01%

精确度: ±0.01%

整机分辨率：130±5eV

探测器： 进口Fast SDD探测器

适用温度： -11~46℃

规格尺寸：467×370×336(mm)

样品腔：310×248×124(mm)

主体结构：高强度金属支架+铝合金外壳

电脑操作系统：ARM 四核+Linux

热敏打印机：支持

天平/密度仪：支持

电池支持：否

样品可视：支持（铅玻璃）

电压： 100V～240V

额定功率：150W

重量：40公斤

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标准配置

主动式射线保护    

全局故障诊断  
 
扩展线材及辅助支架
 

高压过压保护  

升降压预启动
 

光管过执保护

扩展屏

应用领域：

产品荣誉证书