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H20-UVL 真空紫外光谱仪
- 型号
- H20-UVL
详细信息
H20-UVL真空紫外光谱仪是基于单个全息凹面像差校正光栅，其波长覆盖100-600nm范围的单色仪。 它是采用紧凑的设计理念，在真空紫外段光源波长测量或低分辨率测量时，标准配备一个单通道探测器。 多通道探测器的摄谱仪版本也可根据要求提供。
主要应用
•激发单色仪 (在荧光检测中)
•远紫外反射和吸收测量
•等离子体物理研究
H20-UVL是一款基于覆盖波长范围为100-600 nm (2 to 12.4 eV) far UV (FUV) 的特别设计的单色仪，其中在低于190nm以下工作时是基于真空环境；高于190nm使用是基于大气环境。这种专业的设计在保证良好的光通量的基础上可以有效地降低杂散光的干扰，特别是在常见的仪器在低于140nm时若采用C-T结构设计会造成信号损耗增加，数值孔径变小的情况，而该款仪器通过优化光学入射角的方式，很好地保证了光通量的降低。在VUV波段采用短焦距真空单色仪作为分光器件是一种非常理想的选择，在远紫外低分辨光谱分析来说一般采用PMT或者Si探测器，但也可以采用光谱CCD或者MCP探测器。
技术参数
| 光学结构 | Spherical Type IV VLS single optic |
| 焦距长度 | 200 mm |
| 数字孔径 | f/4.2 |
| 光栅密度 | 1200 gr/mm |
| 光学镀膜 | MgF2 optimized at 121 nm |
| 光学入射角 | 64° |
| 线色散 | 3.6 nm/mm at 100 nm |
| 驱动方式 | Fast worm drive |
| 最小步距 | 0.06 nm |
| 扫描速度 | 400 nm/s |
| 光谱精度 | +/- 0.1 nm |
| 光谱重复性 | +/-0.06 nm |
| 光谱分辨率 | Better than 0.1 nm |
| 真空度 | 5 10-6 mbar |
| 法兰接口 | DN63 LF |
| 入/出口 | Micrometric slits (10 um to 2 mm) |
| 入/出口法兰 | DN25 KF |
| 通讯方式 | built-in USB2, no additional controller |
