产品简介：3H-2000PM系列3H-2000PM系列活性炭比表面及孔径分析仪属于研究级仪器，可测试材料的比表面积、总孔容、孔径分布和吸附脱附数据，尤其可对微孔材料的孔径分布给出更准确测试结果，可升级为双站微孔测试功能，适用于对研发、实验要求的科研单位和企业用户。集装阀门和管路设计，模块化组装，保证仪器高真空度和高密封性，是高性能和高稳定性的典型产品。

3H-2000PM系列活性炭比表面及孔径分析仪性能参数

 测试理论：

吸附、脱附等温线测定            BET比表面测定(单点/多点法)；

朗格缪尔(Langmuir)比表面         统计吸附层厚度法外比表面；  

BJH法孔容孔径分布              MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布；  

D-R法微孔分析                  t-plot法(Boder)微孔分析；

H-K法(Original)微孔分析          MP法(Brunauer) 微孔分析；

DFT孔径分析;                   真密度测试、粒度估算报告。

脱气预处理系统：

脱气站数量：2、4、8个预处理站可选；真空脱气，不采用气流吹扫方式；

全自动脱气：不采用分体式的手动控制，而是采用与主机一体的全自动程序控制，定时开始、真空泵自动启停，程序升温、定时结束，实现无人值守测试和样品脱气处理；

独 立 性：测试系统和脱气系统相互独立，样品的测试过程和脱气处理可同时进行；

2组独立控温：可设置2组不同脱气温度、不同脱气时间；

脱气模式：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；

冷阱：具有脱气位冷阱，保护真空系统，提高真空度；

独立真空系统：不与测试位共用真空泵，脱气系统配备独立的双级机械真空泵；

防飞扬防污染多措施并用：

Ø 措施①：涡旋降尘原理的非阻隔式硬件防污染装置，如下图；

Ø 措施②：程序控制的分级抽速自动切换，防止瞬间高真空时样品飞扬；

Ø 措施③：程序升温，防止样品剧烈升温扬析沸腾；

Ø 措施④：脱气完毕程控自动回填氮气；

分析测试系统：

测试范围：比表面0. 0005m2/g至无上限；

孔径：0.35-500 nm(微孔常规分析: 0. 35-2nm; 介孔分析: 2nm-50nm; 大孔分析: 50nm-500nm)；

总孔体积：0.0001cc/g至无上限。

测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%，*可几孔径重复偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。

分 析 站：1或2个分析站可选；

独 立P0站：具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。

测试系统：根据“国标标准”利用“氦气”测试温区体积，使测试精度更高，重复性更好。另外，也可以通过“氮气”测试得到温区体积(弊端：利用氮气测试温区体积，测试过程中可能导致样品部分孔内被氮填充，影响实验过程中氮的实际吸附量，影响测试精度)。

气路系统：贝士德仪器**的BEST“模块”歧管系统，对基准腔及控制阀门进行整体集成设计，无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口，将真空管路减少90%以上，消除漏气点，整个系统漏气率低于10^-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，达到进口仪器水平，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性。

管路通径：大通径是高真空的条件，脱气位和测试位采用大通径阀门和管路，使真空泵的极限真空得到**效果的体现。

控制系统：采用日本SMC气控阀和电磁阀组合应用，杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。

冷阱：脱气气路，分析气路独立双冷阱装置，除去气路中的水分、油性物质等杂质。

真空系统：仪器配备两套独立的真空系统，既脱气系统和分析系统相互独立；分析位配备独立双级机械真空泵+德国涡轮分子泵，极限真空达到 10^-6Pa；三台泵组成的两套独立的真空系统即提高了测试效率，又真正消除了分析与脱气在同时进行时之间的相互影响，避免由一套真空系统而带来的污染问题。

真 空 泵：(阿Atlas copco，原英国爱德华)双级机械真空泵+德国涡轮分子泵，全程软件自动启停控制，实现了全自动化操作。

压力测量：电容薄膜压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-1torr，0-0.1torr（可选）；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的**精度；微孔段分压 P/P0可达到 1×10^-8，点数大于 50 个；大孔段具有 P0的实时测试功能，使 P/P0在趋于临界点时的控制精度达到0.998。

液 氮 杯：配备了3L大容量小口径玻璃内胆杜瓦瓶，相对敞口不锈钢内胆的保温性能大幅提升，保温时长大于140小时，可连续测试90小时以上无需添加液氮，适应微孔长时间测试需求。

液位控制：贝士德**的液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；

标定气体：配备99.999%高纯HE；具有HE气死体积测试功能和温区测试功能；可获得更高的准确性。

测试气体：高纯氮气及根据用户需要可选择多种气体，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路独立进气口。

样品类型：粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。

售后服务：专业且完善的售后服务系统，可提供24小时电话咨询，48小时内，北京，上海，广州均设有服务机构，全力保障用户仪器正常运行；

3H-2000PM系列活性炭比表面及孔径分析仪技术特点及优势

**的集成式“模块化”歧管系统

模块化管路设计，将真空管路减少90%以上，仪器气密性提高10倍，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，减少漏气点，方便故障排查及维修，大幅增强仪器稳定性。   

l 控制系统

采用(日本SMC)气控阀和电磁阀组合应用，通过电磁阀控制气控阀的开关，气控阀直接与模块管路连接，气控阀的开关动作不发热，杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。

l 双冷阱

脱气气路和分析气路独立的双冷阱装置，除去气路中的水分、油性物质等杂质

l 独立P0测试站

具有独立的饱和蒸汽压(P₀)测试站，保证分压测试的高准确性。

(静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置，号：ZL.X)

l 饱和蒸气压螺旋P0管：

采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，是的测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)，提高测试精度。 (饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪，号：ZL.2） 

l 液氮杯自动加盖功能

具有液氮杯自动加盖功能，能有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰，

（静态法比表面及孔径分析仪的加盖装置 号 ZL .4）

l 软硬件配合，消除扬析沸腾现象

贝士德**的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，结合软件防抽飞程序消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。

(具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，号：ZL.X)

l 贝士德**的脱气位滤尘袋，消除对仪器内部结构的污染

结合贝士德**的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，抽真空脱气时间缩短、效果提高。

(具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪，号：ZL.3)     

l 可选处理模式

具有国内外的样品预“处理普通模式”和“分子置换模式”两种模式。

(静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置，号：ZL. 9)     

l 真空泵自动启停管理

优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长真空泵寿命。

l 断电自动保存当前数据

的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行。

l 人性化操作界面

清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行所有硬件的控制操作。

l 密封性自检

的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气。

l 高智能化工作模式

交互式数据处理软件可实现仪器的全自动运行，长时间实验无需人工值守，可根据用户需要定制报告内容。

l 杜绝液氮杯意外下降

具有国内**的液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险。 

3H-2000PM系列活性炭比表面及孔径分析仪适用标准

1. GB.T 5816-1995催化剂和吸附剂表面积测定法

2. GB.T 7702.21-1997煤质颗粒活性炭试验方法比表面积的测定

3. GB.T 10722-2003炭黑_总表面积和外表面积的测定氮吸附法

4. GB.T 11847-89二氧化铀粉末比表面积测定多点BET法

5. GB.T 13390-1992 金属粉末比表面积的测定 氮吸收法（含动态）

6. GB.T 19587-2004气体吸附BET法测定固态物质比表面积（含动态）

7. GB.T 20170.2-2006稀土金属及其化合物物理性能测试方法 稀土化合物比表面积的测定

8. GB.T 21650.3-2011/ISO 15901-3: 2007压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第3部 分：气体吸附法分析微孔

9. GB.T 21650.2-2008/ISO 15901-2: 2006压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第2部分 气体吸附法分析介孔和大孔

10. SY/T 6154-1995 岩石比表面和孔径分布测定 静态氮吸附容量法

11. HG/T 2347.8-1992 γ-Fe₂O₃磁粉比表面积的测定