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Modular Optical Pen DUO 日本optiworks非接触式 3D 测量系统 光学测量仪
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- Modular Optical Pen DUO
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详细信息
日本optiworks非接触式 3D 测量系统Modular Optical Pen DUO
产品特征
1 实现更精确的表面形状测量，更宽的测量范围
除了以前型号中使用的测量方法（“共焦彩色模式”）外，还安装了一种新的“干涉测量模式”。现在可以处理更精确的表面形状测量。两种模式均可根据需要的测量精度使用，扩展了应用范围。
2 模式控制器
该控制器可用于共焦/彩色模式和干涉测量模式。与之前的型号一样，系统配置简单易用，只需根据所需的测量精度更换笔形模块即可。
测量原理（干涉测量方式）
从光源发出的光被测量对象、参考板（参考平面）等反射。此时，两束反射光之间会产生光程差。如图所示，将参考板插入待测物体前，使其尽量靠近，当光程差进入相干长度时，两束反射光就会发生干涉。由于这种干涉的光谱强度受波长调制，因此可以通过同轴颜色校正光学笔对其进行测量和分析，从而实现更精确的厚度测量。
日本optiworks非接触式 3D 测量系统Modular Optical Pen DUO
产品特征
1 实现更精确的表面形状测量，更宽的测量范围
除了以前型号中使用的测量方法（“共焦彩色模式”）外，还安装了一种新的“干涉测量模式”。现在可以处理更精确的表面形状测量。两种模式均可根据需要的测量精度使用，扩展了应用范围。
2 模式控制器
该控制器可用于共焦/彩色模式和干涉测量模式。与之前的型号一样，系统配置简单易用，只需根据所需的测量精度更换笔形模块即可。
测量原理（干涉测量方式）
从光源发出的光被测量对象、参考板（参考平面）等反射。此时，两束反射光之间会产生光程差。如图所示，将参考板插入待测物体前，使其尽量靠近，当光程差进入相干长度时，两束反射光就会发生干涉。由于这种干涉的光谱强度受波长调制，因此可以通过同轴颜色校正光学笔对其进行测量和分析，从而实现更精确的厚度测量。
