产品简介

TriStar II 系列比表面仪及孔径分析仪,孔径测定仪是全自动三站式比表面积和孔隙度分析仪，能够提高质量控制分析的检测速度，并提供高精度、高分辨率和数据处理功能以满足绝大多数研发的需要。

技术特点

· 同时和独立分析三个样品 - 三个BET表面积分析时间少于20分钟

·  TriStar II比表面仪及孔径分析仪,孔径测定仪可用于微孔分析

· 标配一个专用的饱和压力接口，可选多种规格杜瓦瓶以及样品管

· TriStar II比表面仪及孔径分析仪,孔径测定仪可升级成高真空系统，用于低比表面积以及微孔的测试

· 可以测定、计算或手动输入自由空间

· TriStar II比表面仪及孔径分析仪,孔径测定仪可以使用任何气体，死体积测试可以不使用氦气

· 可选满足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的软件。 IQ和OQ认证服务，确保该系统的准确性、可靠性和一致性。这些服务保障了分析记录的完整性

· TriStar II比表面仪及孔径分析仪,孔径测定仪配置了液氮液面保持装置---液氮等温夹，以确保整个分析过程中等温夹套以下的温度恒定 

· 仪器可同时进行三个样品的分析，满足测试量大的用户，不是多个工作站的"排队分析"，每个分析站都配有独立的传感器，保证三个分析站分析的同时进行

· 配备了大容量杜瓦瓶，结合的液氮等温夹，保证至少60小时无人介入操作。无上限的连续分析             

· 仪器软件包含了目前所有的数据处理方法:

单点和多点BET比表面积，Langmuir比表面积

Temkin and Freundlich等温线分析

多种厚度层公示计算的BJH中孔和大孔的孔体积、孔面积对孔径的分布

孔体积和用户孔径范围内的总孔体积

MP法的微孔孔径分布和t-plots、αs-plots得到的微孔总孔体积

f-Ratio plots，D-R，D-A

H-K法(包括Cheng & Yang校正，Saito & Foley校正)

DFT密度函数理论，包括NLDFT等

TriStar II Plus 型号新功能：

·的耐腐蚀的不锈钢歧管，用于高精度的气体管理。

·可选氪气选项，以用于非常低的比表面测试。

·直观的MicroActive 软件使用户能够用交互方式分析等温线数据，更快地获得比表面与孔径数据。

·更强的能包含压汞数据的文件添加叠加删除功能（最多25 个）。

·用户自定义报告选项允许直接建模。

·强大的Python 脚本语言，允许用户开发TriStar II Plus 软件标准报告库扩展程序。

·创新的仪器显示屏，方便的仪器性能指标和维护信息实时显示功能。

·能够在碳微孔分析中同时利用CO2 与N2 两个等温线通过NLDFT 理论来计算全范围孔径。

产品应用

TriStar II比表面仪及孔径分析仪,孔径测定仪借助于气体吸附原理（典型为氮气）可进行等温吸附和脱附分析，用于确定比表面积、微孔孔体积和孔面积、中孔体积和面积、总孔体积等。

适用于各种材料的研究与产品测试，包括测量沸石、碳材料、分子筛、二氧化硅、氧化铝、土壤、黏土、有机金属化合物骨架结构等各种材料。