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Apreo 高分辨率热场发射扫描电子显微镜
- 型号
- Apreo
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上海杜美精密仪器有限公司位于*园区一上海市上海大学科技产业园区内，是一家专业经营国内外理化分析仪器、实验室设备以及技术开发的股份制公司。公司拥有一批经验丰富，理论基础深厚的高科技专业人才，现有3名教授作为技术指导顾问，硕士5名，本科以上学历占总人数90%。公司成立以来，已为众多国内外生产企业、高等院校以及科研机构配备了*的理化分析测试仪器。我们秉着“一、用户、”的宗旨，一如既往地为广大新老客户提供优异的产品和良好的服务。本公司以优质的产品、合理的价格、周到的专业服务为各行各业提供实验室建设、设备选型、调试安装、维修及相关的技术拓展业务。真诚欢迎各界朋友、新老客户来本公司参观、指导、洽谈业务。本公司将竭诚为您提供、多层次、宽领域的优质服务。一、用户、
详细信息
扫描电子显微镜
Apreo
功能丰富的高性能 SEM
Apreo 复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术，可产生高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的研究平台，并且不会降低磁性样品性能。
Apreo 受益于透镜内背散射探测，这种探测提供很好的材料对比度，即使在倾斜、工作距离很短或用于敏感样品时也不例外。新型复合透镜通过能量过滤进一步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式现在的样品仓压力为 500 Pa，可以对要求严苛的绝缘体进行成像。
通过这些优势（包括复合末级透镜、高级探测和灵活样品处理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，帮助您应对未来的研究难题。
Apreo 材料科学应用新的 Apreo 扫描电子显微镜 (SEM) 可对纳米颗粒、金属、复合材料和涂层等多种材料进行检测，并且整合了创新功能，可提供更好的分辨率、对比度和易用性。
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体验 Apreo SEM 带来的优势
- 复合末级透镜可在任何样品（即使在倾斜时或进行地形测量时）上提供优异的分辨率（1 kV 电压下为 1.0 nm），而无需进行电子束减速。
- 背散射探测 - 始终保证良好的材料对比度，即使以低电压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行 TV 速率成像时也不例外。
- 探测器 - 可将各个探测器部分提供的信息相结合，获得至关重要的对比度或信号强度。
- 多种电荷缓解策略，包括样品仓压力为 500 Pa 的低真空模式，可实现任何样品的成像。
- 分析平台：提供高电子束电流，而且光斑很小。样品仓支持三个 EDS 探测器、共面的 EDS 和 EBSD 以及针对分析进行了优化的低真空系
- 样品处理和导航非常简单，具有多用途样品支架和 Nav-Cam+。
