XTH 450 LC，用于叶片和铸件的CT检测，带有高功率450kV微焦点X射线源

Metris XTH 450 LC建立了涡轮叶片测量和中小铸件NDT检测的新参考标准。这台功能强大的设备的核心部件是一个450kV微焦点源，可提供超高分辨率和超高精度。

弯曲的线性阵列探测器通过消除散射现象，优化了X射线图像的采集，散射现象通常会影响叶片和其它金属件的二维射线照片。该探测器是一台非常灵活的设备，可处理小金属件到大金属件，例如叶片、铸件等。

优点

▶可灵活地整合在单个系统中：X射线可用于快速目视检测，CT可用于深入分析

▶快速数据采集和高质量图像

▶高分辨率数字成像和处理

▶嵌入式安全装置可使操作人员安全地操作该系统，无需任何特殊的预防措施或安全警示标志

特性

▶的450kV微焦点源

▶测量体积可达600mm直径和600mm高度

▶高效线性探测器，>80%量子检测有效率

▶五轴可编程托盘式操纵器，带精密滚珠丝杆和线性滑轨

▶特别适用于涡轮叶片的自动通过/不通过检测

应用

▶涡轮叶片内部结构的详细分析

▶叶片的自动通过/不通过检测

▶需要微米精度的高密度部件检测（例如金属件、铸件）

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