T802纳米激光粒度仪|纳米粒度分析仪

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详细信息

T802纳米激光粒度仪|纳米粒度分析仪

发布时间:2020/06/21 点击量:

T802光相关纳米粒度仪
一、产品简介
T802光子相关纳米粒度仪是采用动态光散射原理的纳米粒度仪。其测量原理建立在分散在液体颗粒的布朗运动基础之上,颗粒越小,运动速度越快,颗粒越大,运动速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光电倍增管和我公司研制的高速数字相关器作为核心器件,通过测试某一角度的散射光的变化并求出自相关函数(即扩散系数),根据Stokes-Einstein方程计算出颗粒粒径及分布。它具有快速、高分辨率、重复及准确等特点,同时还具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的优点,是纳米颗粒粒度测试的选择产品。
二、主要性能特点
*的测试原理 该仪器采用动态光散射原理,其测试方法具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的特点,从而保证了测试结果的真实性和有效性;
高灵敏度与信噪比 核心部件采用公司CR256数字相关器,它实时完成动态散射光强的采集和自相关函数运算,从而有效地反映不同大小颗粒的动态光 散射信息,为测试结果的准确度奠定基础;
稳定的光路系统 采用光纤技术搭建而成的光路系统,使光子相关谱探测系统不仅体积小,而且具有很强的抗力,从而保证了测试的稳定性;
高精度恒温控制系统 采用半导体温控技术,温控精度高达±0.2℃,使样品在整个测试过程中始终处于恒温状态,避免温度变化而引起液体黏度及布朗运动速度变化导致的测试偏差,保证测试结果准确度及稳定性。
三、技术参数

规格型号 T802
执行标准 GB/T 19627-2005/ISO 13321:1996
GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008
测试范围 1-10000nm(与样品有关)
浓度范围 0.1mg/ml­--100mg/ml(与样品有关)
准确度误差 <1%(国家标准样品D50值)
重复性误差 <1%(国家标准样品D50值)
激光光源 光纤半导体激光器,λ= 532nm,
探测器 光电倍增管(PMT)
散射角 90o
样品池体积 4mL
温控范围 5-40 ℃(精确到0.1℃)
测试速度 <5 Min
体积 480mm*270mm*170mm
重量 12Kg
数字相关器主要参数 自相关通道:256 基线通道:4
最小分辨时间:6ns 延迟时间:100ns-10ms(可调) 运算速度:162M/S

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