- 面议
参考价：
起订量：
XAVU镀层测厚仪
- 型号
该企业相似产品
江苏一六仪器有限公司坐落于苏州昆山市，是一家专注于光谱分析仪器研发、生产的。 公司的研发团队与海内外专家通力合作，开创了基于Alpha系数和FP算法的第三代核心算法-多元迭代EFP核心算法，开发了高均值聚集光源的微光聚集技术，在微小面积、异形高低面探测、多层多元素与多层同元素的检测上，都具备更佳的表现。公司现有专用高性能X荧光测厚仪、多功能全自动X荧光测厚仪、多用途全性能X荧光光谱仪、真空腔体X荧光光谱仪等多个系列几十种型号仪器，可广泛的应用于涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、等制造领域。 *的技术，专业的团队，严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。 各种涂镀层，成分分析的检测难题欢迎咨询联系！
详细信息
XAVU系列能量色散X荧光光谱分析仪，是一款配备SDD探测器的高效率光谱分析仪！
此款产品可适用于固体和液体的含量检测，用于液体中高含量金属成分的检测，满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和*的光路转换聚焦系统，以及高敏变焦测距装置，可测试极微小和异形样品。
含量分析检出限1ppm，可检测镀层厚度0.005um ，最小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm，特殊要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都可轻松操作。
| 技术参数： |
| 1.探测器：半导体冷却硅漂移SDD探测器 |
2.探测器分辨率：130±5ev |
| 3.涂镀层分析范围：各种元素及有机物 |
| 4.可一次性同时分析：23层镀层，24种元素 |
| 5.最小测量面积：0.04mm² |
| 6.对焦距离：0-30mm，特殊要求可达90mm |
| 7.样品腔尺寸：500mm×360mm×215mm |
| 8.仪器尺寸：550mm×480mm×470mm |
9.仪器重量：45kg |
| 仪器配置： |
| 1.微焦X射线发生器 |
| 2.光路转换聚焦系统 |
| 3.高敏变焦测距装置 |
| 4.半导体冷却硅漂移SDD探测器 |
| 5.*的数字多道分析 |
| 6.高精度微型移动滑轨 |
| 7.标准片Ni/Fe 5um |
| 8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
