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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列产品概述:
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式,配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓,通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。样品仓采用开槽配置,但没有可编程的XY样品台。
B系列标准配置包括一个固定准直器,一个固定焦距的相机,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦点相机和SDD探测器。
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列
可满足以下类型用户的需求:
- 样品测试量相对较小
- 样品仅需测量一个位置
- 大型线路板镀层的抽检
- 预算有限但希望日后仪器性能能有所提升
- 符合IPC-4552A
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列产品参数:
类别 | 参数 |
元素测量范围: X射线管: 探测器: 分析层数及元素数: 滤波器/准直器: 焦距: 数字脉冲器: 计算机:
相机: 电源: 重量: 马达控制/可编程XY平台: 延伸可编程XY平台: 样品仓尺寸: 外形尺寸: | 13号铝元素到92号铀元素 50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 5层,每层可分析10种元素,成分分析至多可分析25种元素 4位置一次过滤器/单规格准直器 激光固定焦距(可选多焦点) 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率 150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz 34kg 不可用 不可用 高度:140mm(5.5"),宽度:310mm(12"),深度:335mm(13") 高度:450mm(18"),宽度:450mm(18"),深度:600mm(24") |
关于美国博曼:
美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和*的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。