M-2000DI光谱型椭偏仪(Spectroscopic Ellipsometer)

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M-2000DI光谱型椭偏仪(Spectroscopic Ellipsometer)

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宁波新材料测试评价中心有限公司成立于2017年,由中科院宁波材料所联合宁波国家高新区(新材料科技城)共同发起,承担国家新材料测试评价平台浙江区域中心的建设。公司以浙江省产业布局为导向,依托中科院宁波材料所测试中心,联合浙江省新材料生产企业、应用单位、科研院所等测试评价资源,致力于开展新材料测试评价方法及标准的研究,提升新材料测试评价的能力,助力新材料产业发展。宁波材料技术与工程研究所公共技术服务中心成立于 2007 年底,为专业的材料检测分析技术支撑部门,2009 年入选中科院所级公共技术服务中心。中心的定位是支撑所内科研,同时对所外企事业单位开放。经过十年的建设发展,于 2018 年在中科院材料化学口所级中心评比中被评为优秀单位;并被浙江省经信厅和宁波市经信局评定为省、市两级服务企业示范平台,已成为支撑研究所科研发展和区域企业科技创新的重要技术服务平台。目前,公共技术服务中心共有材料检测类设备145 台套,价值 2.12 亿元,年度检测样品量达 10 万余件。

详细信息

仪器厂商:美国J.A.Woollam公司
型    号:M-2000DI     
到货日期:2008.4.19

技术指标:

● 波长范围:190~1700 nm
● 光谱分辨率:1.6 nm(波长小于1000 nm);3.7 nm(波长大于1000 nm)
● 自动入射角范围:45~900
● 自动样品台:150 mm*150 mm
● 旋转补偿器,Ψ可测范围0~900,Δ可测范围0~3600

主要用途:

用于单层或多层透明或半透明薄膜的厚度和光学常数的测定,广泛应用于物理、化学、材料、生物、高分子、光学镀膜、太阳能电池、平板显示等领域的研究。

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