产品介绍

能量色散X荧光分析仪利用EDXRF技术，采用X光管产生X射线激发样品，*的SDD探测器探测元素特征X射线，2048道数字化全谱分析，可以分析包括轻元素在内几十种元素，具有分析速度快、分析精度高、分析范围广、稳定性好、操作简单等特点。

在铜合金等金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制(QA/QC)是的，该仪器是质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的优选仪器。生产者可以控制合金中的元素各成分含量，提高产品性能、减少次品和废品，提高经济效益。

主要用途

主要用于铜合金、铝合金、锌合金、铸铁等原材料检验，冶炼生产过程成分控制，成品元素成分定值，炉前合金的快速分析和成品分析。

性能特点

☆.采用了美国新型的电致冷硅漂移SDD半导体探测器，具有高分辨率（125eV）和高探测效率;

☆.采用高真空度测样装置，消除了空气对低能X射线的阻挡，满足RoHS或合金检测时对轻元素的准确分析；

☆.采用大功率的正高压X光管和高压发生器，提高了对轻重元素的检测下限，实现了对多种元素的同时快速检测分析；

☆.自动开盖，无限平台的设计适应多种不同大小规格样品的检测，可以测量固体、 液体、粉末样品；

☆.内置彩色CCD摄像头，使用户可以精确定位检测区域及时记录所测样品图像信息；

☆.一体化的设计，使得仪器的性能稳定可靠、故障率低；

☆.采用USB-CAN适配器与计算机进行通信，使用方便；

☆.自动切换的滤片装置有效的降低了光管的散射本底，提高了仪器测量的峰谷比和分辨率，使得重元素和微量元素的测量更准确；

☆.*的全数字化多道谱仪让仪器测量时的数据采集和处理更加快速准确，极大的提高了仪器的稳定性和抗干扰的能力；

☆.自带数据库管理系统的全中文测量软件让仪器的测量更加方便，操作更加简单；

☆.多重安全的防护设计，使仪器的整机辐射符合国家辐射防护标准，让用户用的放心。

技术指标

1.分析元素范围：Na-U

铜合金：Cu、Ag、Sn、Ni、Fe、Si、Zn、S、Cd、Pb、Cr、Zr、Mg、Co、Mn、Sb、Al、As 、P、Se、Te等；

铸铁：Ti、As、Si、P、Al、Cu、Sb、Nb、Ni、Mo、Mn、Cr、V、Mg等；

不锈钢：Mn、Mo、Ni、Cu、Cr、P、S、Si、V、W、Ti、Pb、Alt、Co、Nb、Sn、As、Sb、Bi、Zn等；

2.元素含量分析范围：0.07ppm～99.9%；

3.探测器：电致冷硅漂移SDD半导体探测器（分辨率优于139eV）;

4.测量范围：1～45KeV；

6.高压：5kV～50kV；

7.管流：5μA～1000μA；

8.整机额定功率：50W；

9.CDD摄像头分辨率：500万像素；

10.真空泵额定功率：550W；

11.10秒钟真空度可达10-2Pa （高真空区域10-1～10-5Pa）;

12.检测时间：120s～300s（时间随样品不同可调整）;

13.仪器重量：65Kg；

14.仪器尺寸：720（W）X440（D）X435（H）mm

实测谱图

使用特点