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SJ5760-PR 大量程粗糙度轮廓仪
- 型号
- SJ5760-PR
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深圳市中图仪器股份有限公司成立于2005年，致力于全尺寸链精密测量仪器及设备的研发、生产和销售。
中图仪器坚持以技术创新为发展基础，拥有一支集光、机、电、信息技术于一体的技术团队，历经20年的技术积累和发展实践，研发出了基础计量仪器、常规尺寸光学测量仪器、微观尺寸光学测量仪器、大尺寸光学测量仪器、常规尺寸接触式测量仪器、微观尺寸接触式测量仪器、行业应用检测设备等全尺寸链精密仪器及设备，能为客户提供从纳米到百米的精密测量解决方案。
中图仪器的销售和服务网点遍及全国三十多个省、市、自治区，产品远销欧、美、东南亚等海外市场，坚持为客户提供高质量的产品和服务。
中图仪器还将继续专注于精密测量检测技术的发展，自强不息、知难而上、勇于创新，为中国制造技术的快速发展贡献力量！
详细信息
粗糙度仪又叫表面粗糙度仪、表面光洁度仪、粗糙度测量仪、粗糙度测试仪等多种名称。主要是测量零件表面的磨加工/精车加工工序的表面加工质量，通俗地讲，就是零件表面加工得光不光，即粗糙度反映的是零件加工表面的微观情况。
SJ5760-PR大量程粗糙度轮廓仪是在轮廓仪上加装粗糙度测量模块，这样既可以测量轮廓尺寸，又可以测量粗糙度。实现一次测量，轮廓、粗糙度同时分析，粗糙度测量传感器选用光栅传感器，具有较大的测量量程，可分析工件不同区域粗糙度，提高测量效率。
SJ5760-PR大量程粗糙度轮廓一体式测量仪采用进口高精度光栅测量系统、高精度研磨级导轨、高性能非接触直线电机、音圈电机测力系统、高性能粗糙度测量模块、高性能计算机控制系统技术，实现对各种工件表面粗糙度和轮廓进行测量和分析。通过高精度研磨导轨、高性能直线电机保证测量的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机通过修正算法对光栅数据进行修正，最终还原出工件轮廓信息、粗糙度信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓、粗糙度进行各种参数分析。
典型应用
技术参数
| 型号 | SJ5760-PR | ||
轮廓参数 | 测量范围 | X轴 | 0~200mm |
| Z轴 | 0~450mm | ||
| Z1轴 | ±25mm | ||
测量精度 | X轴 | ±(0.6+0.015L)μm，（L，mm） | |
| 曲率误差（直径） | ≤±（1+R/15）μm | ||
| 角度误差 | ≤±1′ | ||
| 爬坡能力 | 上坡77º，下坡88º | ||
| 测力 | 10-150mN可调 | ||
粗糙度参数 | 直线度（X扫描轴） | ≤0.4μm/100mm，≤0.8μm/200mm | |
测量范围 | Z0轴 | ±20µm;±100µm;±400µm(可选±1000µm特殊量程) | |
| 传感器类型 | 无轨式 | ||
| 适用测量范围 | Ra0.1μm~Ra64μm | ||
| 测量精度 | 示值误差 | ≤±（5nm+2.5%A）μm | |
| 重复性 | ≤1nm（0.1-0.2μm方波粗糙度样块、标准台阶块) ≤1%（≥0.4μm方波粗糙度样块、标准台阶块) | ||
测量参数 | R粗糙度： Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr等 核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo等 P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq, Pdc, PPc,Pmr, 等 W波度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr等 Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL等 | ||
| 仪器尺寸 | 800×450×1000（mm） | ||
| 仪器重量 | 约115Kg | ||
如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。
SJ5760-PR大量程粗糙度轮廓仪为全自动测量设备，操作者只需装好被测工件，在检定软件上设定扫描的开始、结束位置，点击【开始】按钮，测针会自动接触工件表面，并按设定的位置扫描；可高精度地测量精密加工零部件的粗糙度和轮廓形状，再选择所需评价参数即可进行评价。系统软件为简体中文操作系统，操作方便。
