X射线荧光镀层厚度测量仪

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X-Strata920-PC, X-Strata920-SDD X射线荧光镀层厚度测量仪

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X-Strata920-PC, X-Strata920-SDD

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X射线荧光镀层厚度测量仪 FT230

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2002年,中国台湾景气极差的一年,科迈斯科技悄悄地在国立台北科技大学的育成中心成立。如今的科迈斯已然集团化,在中国拥有三家公司以及两个服务据点,集团总员工人数已扩增为近百人,台北总管理处办公室也因应业务须求扩充至450坪,客户群更遍及各产业市场,客户数更累积超过千家。公司草创,如人饮水,冷暖自知。然而,科迈斯就像是一个为了因应环境而快速成长的巨婴,尚有许多地方急需改进与学习 , 关于这部份,我们不仅需要时间,需要人才,更需要共同的理念。如果说,公司最重要的资产就是有用的人才, 而做人的基本要件就是「诚信」二字的话,那么,科迈斯所依赖与禀持的企业理念,也就是「诚信」。其实,做人与经营管理公司一样, 我们不仅对客户诚实,对伙伴诚实,也对股东诚实。我们戮力取得客户的信任,我们更积极取得团队伙伴与股东的信任,以创造三赢的伙伴关系。科迈斯长期以来一直以环境保护为己任,针对目前的环保意识,例如:欧盟所订的RoHS、WEEE、EuP等环保指令需求,共同努力创造永续、环保、美丽的绿色地球, 科迈斯除了代理各种分析检测仪器,亦提供客户完整之需求与解决方案(Total Solution)。不仅提供质量优良的仪器产品, 而且提供客户可以接受的价格,售后服务有保障。如前所述,科迈斯尚有许多改进的空间,毕竟,随着企业的成长、外在环境的变化以及所肩负的社会责任, 在在督促着我们必须不断向前迈进。我们相信,只要伙伴们同心协力,让科迈斯成为「诚信」的代名词,届时,科迈斯将不只是一个令人称羡的企业集团, 而是让所有客户、股东与伙伴们感到幸福美满的大家庭。是的,我们不一定是,但是,我们坚持要做到。科迈斯,目前归属于科技仪器服务产业,横跨两岸,迈向,创造三赢。 在永续经营的目标理念上,我们一直在思考的是如何让客户更满意,如何让我们团队的所有成员有一个更开放的环境、拥有专业知识、 以更积极学习的态度,共同塑造一个效率、创新、分享、三赢的团队下工作;而成为科技仪器服务产业是我们愿景,以达到永续经营的目标。科迈斯更以专注细心为精神展现出与同业的差异。

详细信息

  • 基于X荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。 X-Strata 920提供多种配置,可分析单层和多层镀层(包括合金层)。四种样品台配置,分别是标准台、井深式、加宽式、程控式,可依照需求分析任何形状的部件样品。
     
    1. 开槽式样品仓设计,可以测量大型平板样品,如尺寸大于仪器  宽度的印制线路板或小型的连接器,接插件样品。所有样品可以很方便地放置并定位到待测点
    2. 样品尺寸:270 x 500 x 150mm
    3. 最小的准直器:0.01mm x 0.25mm(0.5 x10 mil)
    4. 可根据需求选择检测器-正比计数器(Ti钛~-U铀)或高分辨率 (Al铝 -U铀)SDD
    5. 可以分析金属膜厚及成分, 从原子序号22~至92的典型元素的电镀层、化学镀层
    6. 多层多元素校正符合IPC 4556, IPC 4552A
    7. Z 轴自动控制, Z 轴自动对焦系统
    8. 钴二次滤光片,用于准确校正铜镍之间的相互干扰,合适镍层的精确测量
    9. 数量准直器:6个
    10. 金属薄膜厚度0.03微米(30nm)到 30 um微米,根据不同镀层元素和镀层结构不同而不同
    11. Hitachi SmartLink FP 基本参数法
  • 項目 描述
    測量方向
    (X射線照射方向)
    從上往下,即使樣品表面有一定的幅度或不平整等情況也可輕易對焦
    外形尺寸 寬 x 深 x 高 [mm]: 約 407 x 770 x 400 mm
    樣品台設計 開槽式樣品倉,可以測量大型平板樣品,如尺寸大於儀器  寬度的印製線路板或小型的連接器,接外掛程式樣品。所有樣品可以很方便地放置並定位到待測點。 Z 軸自動控制(Z 向行程:43mm)
    樣品倉內部尺寸:236 x 430 x 160mm (寬 x 深 x 高)
    X射線源 W 靶射線管
    高壓發生器 50 kV, 1.0 mA (50 W) 高壓發生器,高壓多檔可調
    二次濾光片 鈷二次濾光片,用於準確校正銅鎳之間的相互干擾,合適鎳層的精確測量。
    X射線接收器檢(探測器) 正比計數器(Ti鈦~-U鈾)或高解析度 (Al鋁 -U鈾) SDD
    元素範圍 鈦-鈾,或鋁-鈾(SDD)
    視頻系統 彩色 CCD,30 倍光學放大, 200%、300%和 400%數位放大。樣品分析區域
    在使用者介面顯示,清晰、易用。
    Z 軸自動對焦系統 鐳射用於 Z 軸自動精確定位X 射線光管/檢測器與被測樣品到測試距離。
    「一鍵操作」將Z 軸測試頭移動到位置,同時將樣品圖像定焦(顯示在螢幕上)。
    自動而簡單的操作提高儀器測試的再現性,並將人為測量誤差降到。
    注:測試距離為 12.7mm,由 X 射線測試頭自動調節高度(Z 軸)。
    可測量的鍍層
    元素範圍
    元素週期表中 22 號鈦元素到 92 號鈾元素
    可測量的鍍層層數 最多可同時測量 4 層(不含基材)
    可測鍍層厚度範圍 通常約 0.03 微米到 30 微米,根據不同鍍層元素和鍍層結構不同而不同。
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