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该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

u 主要性能指标

※ 波长范围及峰值波长：

UV－340探头：λ：(315～370)nm；λP＝340nm

※ 辐照度测量范围：

(0.1～199.9×103)μW/cm2

※ 紫外带外区杂光：

UV340：小于0.05％

※ 余弦特性：

符合国家二级光照度标准

※ 示值相对误差：

±10％

※ 响应时间：

1秒

※ 使用环境：

温度(0~40)℃；湿度＜85％RH

※ 尺寸和重量：

180mm×80mm×36mm；0.2kg

※ 电源：

9V积层电池（6F22型）一只